[实用新型]一种航天器热控涂层测量装置

权利要求书

1.一种航天器热控涂层测量装置，其特征在于，包括样品室，所述样品室一侧壁表面分别设置参比光入口和样品光入口，所述样品室内设置参比光反射镜组，所述样品室内置积分球，所述积分球的样品侧光路设置被测样品，其参比侧光路设置参比白板，所述参比光入口导入的参比光通过参比光反射镜组折射至参比白板后漫反射到积分球内的接收器形成光源波动基线，所述样品光入口导入的样品光通过被测样品表面的热控涂层漫反射至积分球内的接收器以形成被测样品的反射光谱。

2.根据权利要求1所述的一种航天器热控涂层测量装置，其特征在于，所述反射光谱的测量波段范围为200nm~2800nm。

3.根据权利要求2所述的一种航天器热控涂层测量装置，其特征在于，所述参比白板的入射角或被测样品表面的入射角为8°。

4.根据权利要求1所述的一种航天器热控涂层测量装置，其特征在于，所述积分球直径为60mm。

5.根据权利要求1所述的一种航天器热控涂层测量装置，其特征在于，所述参比光反射镜组包括若干可调整光路反射角度的反射镜。