[实用新型]基于多光谱的半导体智能检测装置

权利要求书

1.一种基于多光谱的半导体智能检测装置，其特征在于，包括工作台(1)、多光谱成像处理器(3)、电机(8)、减速机(9)、主动轴(10)、从动轴(11)和传送带(12)，工作台(1)的底端设置有四组支撑腿(2)，多光谱成像处理器(3)固定安装在工作台(1)的顶端，多光谱成像处理器(3)的前端设置有显示屏(4)和光学镜头(5)，工作台(1)顶端的左右两侧分别对称的设置有两组左立板(6)和两组右立板(7)，电机(8)和减速机(9)固定安装一组左立板(6)的前端，电机(8)的输出端与减速机(9)的输入端连接，主动轴(10)通过与减速机(9)输出端的连接转动安装在两组左立板(6)上，从动轴(11)转动安装在两组右立板(7)上，传送带(12)转动套装在主动轴(10)和从动轴(11)的圆周外壁上。

2.如权利要求1所述的一种基于多光谱的半导体智能检测装置，其特征在于，还包括四组万向架(13)和四组脚轮(14)，四组万向架(13)分别固定安装在四组支撑腿(2)的底端，四组脚轮(14)分别转动安装在四组万向架(13)上，四组万向架(13)上均转动设置有锁扣(15)。

3.如权利要求2所述的一种基于多光谱的半导体智能检测装置，其特征在于，还包括手推把(16)，手推把(16)固定安装在工作台(1)的左端。

4.如权利要求3所述的一种基于多光谱的半导体智能检测装置，其特征在于，还包括防滑把套(17)，防滑把套(17)固定套装在手推把(16)的圆周外壁上。

5.如权利要求4所述的一种基于多光谱的半导体智能检测装置，其特征在于，还包括挡板(18)，挡板(18)固定安装在一组左立板(6)和右立板(7)的前端。

6.如权利要求5所述的一种基于多光谱的半导体智能检测装置，其特征在于，还包括散热板(19)，多光谱成像处理器(3)的后端设置有散热口，散热板(19)上设置有四组固定螺栓(20)，散热板(19)通过四组固定螺栓(20)固定安装在散热口上。

7.如权利要求6所述的一种基于多光谱的半导体智能检测装置，其特征在于，还包括四组横梁(21)，四组横梁(21)分别固定安装在四组支撑腿(2)上。

8.如权利要求7所述的一种基于多光谱的半导体智能检测装置，其特征在于，所述工作台(1)采用不锈钢材质制作。