[实用新型]一种空间外差干涉成像光谱仪成像推扫装调机构有效

专利信息
申请号: 202021319991.7 申请日: 2020-07-08
公开(公告)号: CN212206354U 公开(公告)日: 2020-12-22
发明(设计)人: 汪钱盛;罗海燕;丁毅;施海亮;李志伟;熊伟 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: G01J3/45 分类号: G01J3/45;G01J3/02;G01N21/31
代理公司: 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 代理人: 何梅生
地址: 230031 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 空间 外差 干涉 成像 光谱仪 推扫装调 机构
【说明书】:

实用新型公开了一种空间外差干涉成像光谱仪成像推扫装调机构,是由平台分隔为下层调整结构和上层调整结构;下层调整结构为:设置呈水平放置的底座,平台支撑在底座上,并能调整平台与底座之间的前后倾角;前后倾角是指平台与水平面中Y轴的夹角;上层调整结构为:将载物台支撑在平台上,并能调整载物台与平台之间的左右倾角;左右倾角是指载物台与水平面中X轴的夹角。本实用新型结构紧凑、安装方便、调节灵活、稳定可靠,用于实现空间外差干涉成像光谱仪推扫方向与干涉调制方向的一致性调节功能。

技术领域

本实用新型涉及一种空间状态调整结构,更具体地说是一种应用在空间外差干涉成像光谱仪中的成像推扫装调机构。

背景技术

空间外差光谱仪基于空间外差光谱技术,相对于传统光谱仪,更具有光谱分辨率高、光通量大、信噪比高和稳定性好等优势,已被用于紫外波段的星际介质、中高层大气OH自由基和大气主要温室气体柱浓度的遥感探测。

空间外差干涉成像光谱仪采用干涉成像技术,具有高空间分辨率,但要求结合推扫或摆扫机构完成干涉光谱与图像的信息获取。仪器在轨搭载的卫星平台一般都具有很高的指向精度(0.05°,3轴3σ)和姿态确定精度(0.01°,3轴3σ)以及姿态稳定度(5×10-4°,3轴3σ),以满足干涉调制与空间信息的高精度配准;同样的,地基仪器或载荷的地面验证试验也需要成像推扫装调机构具备上述功能。

现有技术中关于二维角度调整机构已有柔性铰链机构和三支点铰链结构等,其中柔性铰链机构是利用材料的柔性变形实现高精度调节,但其承载能力低、调节范围小;三支点铰链结构是通过螺旋传动改变支点的高度,但其调节精度低,调节方向不明确,控制难度大,均不能满足空间外差干涉成像光谱仪成像推扫装调的要求。

实用新型内容

本实用新型是为避免上述现有技术所存的不足,提供一种调节方便、承载能力强、稳定性好的空间外差干涉成像光谱仪成像推扫装调机构,实现空间外差干涉成像光谱仪推扫方向与干涉调制方向的一致性调节。

本实用新型为解决技术问题采用如下技术方案:

本实用新型空间外差干涉成像光谱仪成像推扫装调机构的结构特点是:

所述装调机构由平台分隔为下层调整结构和上层调整结构;所述下层调整结构为:设置呈水平放置的底座,平台支撑在底座上,并能调整平台与底座之间的前后倾角;所述前后倾角是指平台与水平面中Y轴的夹角;所述上层调整结构为:将载物台支撑在平台上,并能调整载物台与所述平台之间的左右倾角;所述左右倾角是指载物台与水平面中X轴的夹角。

本实用新型空间外差干涉成像光谱仪成像推扫装调机构的结构特点也在于:所述下层调整结构包括:在底座上设置一底座螺纹凸台,在所述底座螺纹凸台中配合设置竖向螺杆,所述竖向螺杆的杆顶端抵于平台的底面;在底座上设置一对底座U型耳槽,在对应位置的平台的底面设置一对平台U型凸台,所述底座U型耳槽和平台U型凸台一一对应地利用各自销孔中的中层销轴实现铰接;所述底座螺纹凸台处在所述Y轴上,一对底座U型耳槽在Y轴的两侧呈轴对称,用于连接底座U型耳槽和平台U型凸台的两根中层销轴处在同一直线上,且直线与X轴平行;所述底座螺纹凸台与底座U型耳槽分处在X轴的两侧。

本实用新型空间外差干涉成像光谱仪成像推扫装调机构的结构特点也在于:在所述底座与载物台之间,设置用于稳定机构的拉伸拉簧。

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