[实用新型]一种空间外差干涉成像光谱仪成像推扫装调机构有效
| 申请号: | 202021319991.7 | 申请日: | 2020-07-08 |
| 公开(公告)号: | CN212206354U | 公开(公告)日: | 2020-12-22 |
| 发明(设计)人: | 汪钱盛;罗海燕;丁毅;施海亮;李志伟;熊伟 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号: | G01J3/45 | 分类号: | G01J3/45;G01J3/02;G01N21/31 |
| 代理公司: | 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 | 代理人: | 何梅生 |
| 地址: | 230031 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 空间 外差 干涉 成像 光谱仪 推扫装调 机构 | ||
1.一种空间外差干涉成像光谱仪成像推扫装调机构,其特征是:所述装调机构由平台(4)分隔为下层调整结构和上层调整结构;所述下层调整结构为:设置呈水平放置的底座(1),平台(4)支撑在底座(1)上,并能调整平台(4)与底座(1)之间的前后倾角;所述前后倾角是指平台(4)与水平面中Y轴的夹角;所述上层调整结构为:将载物台(5)支撑在平台(4)上,并能调整载物台(5)与所述平台(4)之间的左右倾角;所述左右倾角是指载物台(5)与水平面中X轴的夹角。
2.根据权利要求1所述的空间外差干涉成像光谱仪成像推扫装调机构,其特征是:所述下层调整结构包括:在底座(1)上设置一底座螺纹凸台(101),在所述底座螺纹凸台(101)中配合设置竖向螺杆(3),所述竖向螺杆(3)的杆顶端抵于平台(4)的底面;在底座(1)上设置一对底座U型耳槽(102),在对应位置的平台(4)的底面设置一对平台U型凸台(402),所述底座U型耳槽(102)和平台U型凸台(402)一一对应地利用各自销孔中的中层销轴实现铰接;所述底座螺纹凸台(101)处在所述Y轴上,一对底座U型耳槽(102)在Y轴的两侧呈轴对称,用于连接底座U型耳槽(102)和平台U型凸台(402)的两根中层销轴处在同一直线上,且直线与X轴平行;所述底座螺纹凸台(101)与底座U型耳槽(102)分处在X轴的两侧。
3.根据权利要求1所述的空间外差干涉成像光谱仪成像推扫装调机构,其特征是:在所述底座(1)与载物台(5)之间,设置用于稳定机构的拉伸拉簧。
4.根据权利要求1所述的空间外差干涉成像光谱仪成像推扫装调机构,其特征是:所述上层调整结构为:在平台(4)的上表面设置一对平台U型耳槽(401),在对应位置的载物台(5)的底面设置一对载物台U型凸台(501),所述平台U型耳槽(401)与载物台U型凸台(501)一一对应地利用各自销孔中的上层销轴实现铰接;在平台(4)的上表面设置由水平螺杆(7)和与所述水平螺杆(7)螺纹配合的水平滑块(8),所述水平螺杆(7)利用两端轴承支承在平台(4)上并得到轴向限位,转动水平螺杆(7)能够使水平滑块(8)沿X轴向移动;对应位置的载物台(5)的底面沿X轴向固定设置一楔形块(9),所述楔形块(9)以其楔面支撑在所述水平滑块(8)的顶面;所述一对平台U型耳槽(401)在X轴的两侧呈轴对称,所述水平螺杆(7)位于X轴所在位置上,且水平螺杆(7)与平台U型耳槽(401)分处在Y轴的两侧。
5.根据权利要求4所述的空间外差干涉成像光谱仪成像推扫装调机构,其特征是在所述上层调整结构中:在所述平台(4)的上表面沿X轴向设置滑槽(6),所述滑块(8)位于滑槽(6)中获得X轴向上的导向;将所述滑块(8)的顶面设置为弧形,以所述弧形面抵于楔形块(9)的楔面。
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