[实用新型]一种硅片镀膜片有效

专利信息
申请号: 202021121990.1 申请日: 2020-06-17
公开(公告)号: CN212517216U 公开(公告)日: 2021-02-09
发明(设计)人: 张瑞麟;蔡林林;李江波;曹子玉;孙丹芳;汪平锋 申请(专利权)人: 利基光电科技(九江)有限公司
主分类号: H01L31/0216 分类号: H01L31/0216
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 332000 江西省九江市经济技*** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: 一种 硅片 镀膜
【权利要求书】:

1.一种硅片镀膜片,包括硅片本体(1),其特征在于,所述硅片本体(1)的端面上沉积有复合功能膜层(2),所述复合功能膜层(2)包含所述硅片本体(1)依次向外沉积的氮化硅膜层一(2a)、氮化硅膜层二(2b)、耐高温阻燃膜层(2c)及氧化硅膜层(2d),所述氮化硅膜层一(2a)及所述氮化硅膜层二(2b)的厚度依次递增,所述氮化硅膜层一(2a)及所述氮化硅膜层二(2b)的折射率均大于所述氧化硅膜层(2d)的折射率,所述耐高温阻燃膜层(2c)设于所述氮化硅膜层二(2b)及所述氧化硅膜层(2d)之间。

2.根据权利要求1所述的硅片镀膜片,其特征在于,所述氮化硅膜层一(2a)的厚底为10~30nm,折射率为1.8~2.0。

3.根据权利要求1所述的硅片镀膜片,其特征在于,所述氮化硅膜层二(2b)的厚底为20~50nm,折射率为2.0~2.3。

4.根据权利要求1所述的硅片镀膜片,其特征在于,所述氧化硅膜层(2d)的厚底为0.5~3nm,折射率为1.0~1.5。

5.根据权利要求1所述的硅片镀膜片,其特征在于,所述耐高温阻燃膜层(2c)的厚度为5~15nm,折射率为1.0~1.8。

6.根据权利要求1所述的硅片镀膜片,其特征在于,所述氮化硅膜层一(2a)及所述氮化硅膜层二(2b)的折射率大于所述氧化硅膜层(2d)的折射率。

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