[实用新型]用于Micro-LED晶片的吸嘴及LED封装装置有效
| 申请号: | 202021121028.8 | 申请日: | 2020-06-17 |
| 公开(公告)号: | CN212209452U | 公开(公告)日: | 2020-12-22 |
| 发明(设计)人: | 李漫铁;周杰;罗国华;赵敏;陈小超 | 申请(专利权)人: | 惠州雷曼光电科技有限公司;深圳雷曼光电科技股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L21/67;H01L33/52 |
| 代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 陈秀丽 |
| 地址: | 516000 广东省惠州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 micro led 晶片 封装 装置 | ||
本实用新型涉及一种用于Micro‑LED晶片的吸嘴及LED封装装置,吸嘴用于吸取LED晶片,相邻两个LED晶片的间隙与LED晶片的宽度的和为预设间距,用于LED晶片的吸嘴包括握持本体以及吸取本体,握持本体开设有第一腔体;吸取本体开设有第二腔体,吸取本体具有相对的连接端和吸取端;连接端与握持本体连接,第二腔体与第一腔体连通;吸取端具有吸取面,吸取面开设有与第二腔体连通的吸附口;吸取端的端面的宽度小于预设间距。上述用于LED晶片的吸嘴及LED封装装置,在吸嘴下降的时候不会触碰旁边的LED晶片,因此避免了撞晶,也避免了待安装的LED晶片悬浮而安装不下去的情况,从而可以保证晶片的LED正常安装,因此保证了产品的良率。
技术领域
本实用新型涉及LED封装技术领域,特别是涉及一种用于Micro-LED晶片的吸嘴及LED封装装置。
背景技术
市场上绝大部分吸嘴适用于独立封装LED,晶片尺寸、晶片间位置相对比集成封装LED大一些,操作也相对容易。然而针对P1.0以下的集成封装LED,使用的晶片小且比较多,所使用的晶片一般在6mil以下,即晶片的宽度一般在0.1524mm以下,晶片之间位置相对较小,一般在0.20mm以下,市面上普通款吸嘴尺寸过大,其用于吸取晶片时,会出现撞晶及晶片放不下去造成悬浮等现象,影响产品的良率。
实用新型内容
基于此,有必要针对现有的吸嘴吸取晶片会造成撞晶及晶片放不下去而导致悬浮的问题,提供一种用于Micro-LED晶片的吸嘴及LED封装装置。
一种用于Micro-LED晶片的吸嘴,用于吸取LED晶片,相邻两个所述LED晶片的间隙与所述LED晶片的宽度的和为预设间距,所述用于LED晶片的吸嘴包括:
握持本体,所述握持本体开设有第一腔体;以及
吸取本体,所述吸取本体开设有第二腔体,所述吸取本体具有相对的连接端和吸取端;所述连接端与所述握持本体连接,所述第二腔体与所述第一腔体连通;所述吸取端具有吸取面,所述吸取面开设有与所述第二腔体连通的吸附口;所述吸取端的端面的宽度小于所述预设间距。
在其中一个实施例中,所述吸取端的端面的宽度小于所述LED晶片的宽度。
在其中一个实施例中,所述吸取端的端面的宽度为0.08mm至0.1mm。
在其中一个实施例中,所述吸附口的截面的宽度小于所述LED晶片的宽度。
在其中一个实施例中,所述吸附口的截面的宽度为0.05mm至0.07mm。
在其中一个实施例中,所述吸取本体包括相连接的连接部和吸取部,所述连接端为所述连接部的远离所述吸取部的一端,所述吸取端为所述吸取部的远离所述连接部的一端;沿远离所述连接部的方向,所述吸取部的横截面的面积逐渐减小。
在其中一个实施例中,所述连接部的横截面的宽度为0.12mm至0.15mm。
在其中一个实施例中,所述吸取本体的长度大于所述LED晶片的厚度。
在其中一个实施例中,所述吸取本体的长度为0.15mm至0.18mm。
一种LED封装装置,包括如上述任一实施例所述的用于LED晶片的吸嘴。
上述用于Micro-LED晶片的吸嘴及LED封装装置,吸嘴具有握持本体和吸取本体,吸取本体的吸取端开设了吸附口,与第一腔体和第二腔体共同作用,用于吸取LED晶片,由于吸取端的端面的宽度小于预设间距,即小于相邻两个LED晶片的间隙与LED晶片的宽度的和,这样在吸嘴吸取一个LED晶片至晶片基板上时,吸取本体的吸取端与上一个已经安装好的晶片具有间隔,因此不会碰到上一个晶片,因此避免了撞晶,即避免了吸嘴被阻挡下降的行程,因此也避免了待安装的LED晶片悬浮而安装不下去的情况,从而可以保证LED晶片的正常安装,因此保证了产品的良率。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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