[实用新型]一种重量可调的锗单晶生长用悬浮坩埚有效

专利信息
申请号: 202020948505.1 申请日: 2020-05-29
公开(公告)号: CN212451738U 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 柯尊斌;陆海风;秦瑶;王卿伟;陈仕天 申请(专利权)人: 中锗科技有限公司
主分类号: C30B15/10 分类号: C30B15/10;C30B15/20;C30B29/08
代理公司: 南京中律知识产权代理事务所(普通合伙) 32341 代理人: 李建芳
地址: 211299 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 重量 可调 锗单晶 生长 悬浮 坩埚
【说明书】:

实用新型公开了一种重量可调的锗单晶生长用悬浮坩埚,包括圆筒形埚壁;圆筒形埚壁内侧底部设有向外凸出的弧形埚底;圆筒形埚壁顶部沿周边均布有两个以上相同深度的配重盲孔;弧形埚底为曲率半径为从周边到中心逐渐增大的结构,弧形埚底上开有进料孔。上述悬浮坩埚,通过配重盲孔的设置,可通过向配重盲孔中添加钨棒或者钼棒来调节悬浮坩埚重量,实现进料深度的调节,改善了熔体对流,提升了单晶质量;通过加大弧形埚底中心处的曲率半径,大大提升了悬浮坩埚在熔体中的稳定性,有利于单晶成晶;进一步,通过加大圆筒形埚壁的上半部分内壁的粗糙度,增加了浮渣在悬浮坩埚上半部分内壁的粘附,消除了浮渣对无位错锗单晶成晶影响,提升了单晶合格率。

技术领域

本实用新型涉及一种重量可调的锗单晶生长用悬浮坩埚,属于晶体生长技术领域。

背景技术

直拉法生长锗单晶,是利用旋转着的籽晶从坩埚中的熔体中提拉制备出单晶的方法,拉晶过程在单晶炉中实现。

现有的悬浮坩埚,重量固定、不可调节,存在进料深度难调节的问题,若进料深度过浅,会导致坩埚中的熔体从边缘开始结晶,导致无法拉晶,若进料深度过深,会由于不同高度熔体的较大的温度差而导致熔体对流,进而影响熔体质量;且悬浮坩埚底部为半圆形结构,存在悬浮坩埚在熔体中稳定性差的缺点。进一步,现有的悬浮坩埚使用过程中,浮渣不容易粘附在悬浮坩埚内壁,进而影响成晶效果。

实用新型内容

本实用新型提供一种重量可调的锗单晶生长用悬浮坩埚,解决了现有悬浮坩埚重量固定、不可调节及浮埚在熔体中稳定性差的问题;进一步,还解决了浮渣在坩埚内壁难以粘附,进而影响成晶效果的问题。

为解决上述技术问题,本实用新型所采用的技术方案如下:

一种重量可调的锗单晶生长用悬浮坩埚,包括圆筒形埚壁;圆筒形埚壁内侧底部设有向外凸出的弧形埚底;圆筒形埚壁顶部沿周边均布有两个以上相同深度的配重盲孔;弧形埚底为曲率半径为从周边到中心逐渐增大的结构,弧形埚底上开有进料孔。

上述通过配重盲孔的设置,可通过向配重盲孔中添加钨棒或者钼棒来调节悬浮坩埚重量,实现进料深度的调节,改善了熔体对流,提升了单晶质量。

弧形埚底为曲率半径为从周边到中心逐渐增大的结构,也即加大了弧形埚底中心处的曲率半径,这样弧形埚底外侧中心附近弧线平缓,大大提升了悬浮坩埚在熔体中的稳定性,有利于单晶成晶。

为了解决浮渣在坩埚内壁难以粘附的问题,圆筒形埚壁的上半部分内壁的粗糙度Ra1大于下半部分内壁的粗糙度Ra2。也即增大了圆筒形埚壁上半部分内壁的粗糙度,增加了浮渣在悬浮坩埚上半部分内壁的粘附,消除了浮渣对无位错锗单晶成晶影响,提升了单晶合格率。下半部分内壁低的粗糙度,可以减少拉晶过程中熔体与坩埚内壁摩擦,以降低石墨表层掉颗粒。圆筒形埚壁的上半部分,也即圆筒形埚壁高度方向、中部及以上的部分;圆筒形埚壁的下半部分,也即圆筒形埚壁高度方向、中部以下的部分。

进一步优选,粗糙度Ra1的取值范围为11~13μm,粗糙度Ra2的取值范围为1~4μm。

为了兼顾稳定性和进料的问题,弧形埚底的曲率半径从周边到中心的渐变范围为800~1000mm。弧形埚底中心的曲率半径为1000mm,可以很好地确保坩埚在熔体中的稳定性,到周边曲率半径逐渐减小为800mm,可以确保熔体顺利从进料孔中进入。

为了进一步便于进料,弧形埚底的最大半径为R,进料孔设在距离弧形埚底中心1/3~2/3R处。

为了便于控制和调整,所有配重盲孔的形状相同、大小相等。配重盲孔的横截面为圆形。

为了便于操作,配重盲孔的轴向与圆筒形埚壁的轴向相互平行。

为了满足一般生产需求,优选,配重盲孔有28~32个。

本实用新型未提及的技术均参照现有技术。

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