[实用新型]氡、钍射气子体采样器

说明书

本实用新型提供的一种氡、钍射气子体采样器，包括采样空间；沿着采样空间内自一端至另一端依次设置有沉积采样滤膜、采样扩散腔、铝过滤膜以及CR39固体核径迹探测元件；且铝过滤膜包括四个厚度不同的过滤膜，分别为第一通道T_I、第二通道T_II、第三通道T_III和本底通道；第一通道T_I、第二通道T_II、第三通道T_III和本底通道用于对目标射气子体释放的α粒子能量进行不同程度的衰减；沉积采样滤膜用于沉积阻留目标射气子体上，以保障目标射气子体释放的α粒子能够穿过铝过滤膜经过衰减进入CR39固体核径迹探测元件上；CR39固体核径迹探测元件用于接收经过衰减后的目标射气子体释放的α粒子在其表面形成积极响应。

技术领域

本实用新型涉及固体核径迹检测技术领域，尤其是涉及一种氡、钍射气子体采样器。

背景技术

众所周知，氡、钍射气及其子体的照射是非吸烟者诱发肺癌的首位环境病因。长期暴露于高氡浓集的地下工作场所或是居室内，尘肺病的发病率会明显上升，加上氡照射的影响，尘肺和肺癌危险度被进一步被推高。

研究人员发现，居室内天然辐射照射对人类健康的影响正在逐步显现，然而降低居室内氡浓度和控制氡及子体危害的核心是实现对居室氡/钍射气及其衰变子体浓度的准确评价和测量。

目前，常见的氡/钍射气衰变子体的累积测量的主要方法包括固体核径迹、活性炭盒和驻极体方法。活性炭盒的主要缺点是对居室内温度和湿度的变化敏感，结果中需要扣除出本底γ辐射的影响，相对测量时间短(小于7d)。驻极体法的主要缺点是对湿度非常敏感，无法反映氡及其子体平衡态变化(F值变化差异，即平衡当量氡浓度差异)，长期累积只能得到平均水平，而其对氡及子体分别产生的剂量贡献没有区分。

在常规技术中，利用CR-39固体核径迹探测器实施的固体核径迹检测技术；目前，采用CR-39固体核径迹探测器(片)及扩散室体对氡钍射气进行被动累积式测量，其基本原理是：所测量的含氡钍射气空气进入测量室后，氡钍射气及其一系列衰变子体释放α粒子，α粒子可在CR-39固体核径迹片上形成损伤径迹，单位面积上的损伤径迹密度与氡钍射气浓度具有比例关系，利用比例关系可测定辐射剂量。但现有技术中固体核径迹检测技术，其仍然存在一些明显的技术缺陷，例如：只能测量得到氡气体或氡子体浓度的平均水平，对氡及子体无分辨。因此说，如何克服现有技术中的上述技术缺陷是本领域技术人员亟需解决的技术问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种氡、钍射气子体采样器，以解决现有技术中存在的上述技术问题。

本实用新型提供的一种氡、钍射气子体采样器，包括采样盒体以及采样头组件；所述采样头组件包括采样空间；

沿着所述采样空间内自气体释放方向自一端至另一端依次设置有沉积采样滤膜、采样扩散腔、铝过滤膜以及CR39固体核径迹探测元件；

且所述铝过滤膜包括四个厚度不同的过滤膜，分别为第一通道T_I、第二通道T_II、第三通道T_III和本底通道；所述第一通道T_I、所述第二通道 T_II、所述第三通道T_III和所述本底通道用于对目标射气子体释放的α粒子能量进行不同程度的衰减；

所述沉积采样滤膜用于沉积阻留目标射气子体上，以保障目标射气子体释放的α粒子能够穿过所述铝过滤膜经过衰减进入CR39固体核径迹探测元件上；

所述CR39固体核径迹探测元件用于接收经过衰减后的目标射气子体释放的α粒子在其表面形成积极响应。

优选的，作为一种可实施方案；厚度为100μm厚度的铝过滤膜形成了本底通道；