[实用新型]氡、钍射气子体采样器有效

专利信息
申请号: 202020923619.0 申请日: 2020-05-27
公开(公告)号: CN212206776U 公开(公告)日: 2020-12-22
发明(设计)人: 曹磊;兰长林;吴鹏;王晓涛;党磊;方芳 申请(专利权)人: 北京市化工职业病防治院;兰州大学;生态环境部核与辐射安全中心
主分类号: G01N1/22 分类号: G01N1/22
代理公司: 北京绘聚高科知识产权代理事务所(普通合伙) 11832 代理人: 陈卫
地址: 100000 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 钍射气子体 采样
【权利要求书】:

1.一种氡、钍射气子体采样器,其特征在于,包括采样盒体以及采样头组件;所述采样头组件包括采样空间;

沿着所述采样空间内自气体释放方向自一端至另一端依次设置有沉积采样滤膜、采样扩散腔、铝过滤膜以及CR39固体核径迹探测元件;

且所述铝过滤膜包括四个厚度不同的过滤膜,分别为第一通道TI、第二通道TII、第三通道TIII和本底通道;所述第一通道TI、所述第二通道TII、所述第三通道TIII和所述本底通道分别用于对目标射气子体释放的α粒子能量进行不同程度的衰减;

所述沉积采样滤膜用于沉积阻留目标射气子体上,以保障目标射气子体释放的α粒子能够穿过所述铝过滤膜经过衰减进入CR39固体核径迹探测元件上;

所述CR39固体核径迹探测元件用于接收经过衰减后的目标射气子体释放的α粒子在其表面形成积极响应。

2.根据权利要求1所述的氡、钍射气子体采样器,其特征在于,

其中,厚度为100μm厚度的铝过滤膜形成了本底通道;

厚度为1.0-3.0μm厚度的铝过滤膜形成了第一通道TI,实现接收氡射气子体Po-218、Po-214的α粒子以及钍射气子体的Bi-212、Po-212的α粒子,并最终保证经过该厚度铝过滤膜衰减后的上述α粒子所剩能量为3~5MeV,从而在CR39固体核径迹探测元件上形成响应;

厚度为10.0-15.0μm厚度的铝过滤膜形成了第二通道TII,实现接收氡射气子体Po-214的α粒子以及钍射气子体Po-212的α粒子,并最终保证经过该厚度铝过滤膜衰减后的上述α粒子所剩能量为3~5MeV,从而在CR39固体核径迹探测元件上形成响应;

厚度为20.0-25.0μm厚度的铝过滤膜形成了第三通道TIII,实现接收钍射气子体Po-212的α粒子,并最终保证经过该厚度铝过滤膜衰减后的上述α粒子所剩能量为3~5MeV,从而在CR39固体核径迹探测元件上形成响应。

3.根据权利要求2所述的氡、钍射气子体采样器,其特征在于,所述采样头组件还包括设置在沉积采样滤膜上部的第一密封圈;所述第一密封圈设置在采样扩散腔的底部,所述第一密封圈用于对所述采样扩散腔与所述沉积采样滤膜之间空间的侧周面形成密封保护。

4.根据权利要求3所述的氡、钍射气子体采样器,其特征在于,所述采样头组件还包括自上而下顺序设置的滤膜垫、密封压环和第二密封圈;所述滤膜垫设置在所述沉积采样滤膜的底部,用于对所述沉积采样滤膜形成支撑作用;所述密封压环用于对滤膜垫形成压紧支撑作用;所述第二密封圈设置在采样扩散腔的内并位于密封压环的底部,所述第二密封圈用于对所述采样扩散腔与所述密封压环之间空间的侧周面形成密封保护。

5.根据权利要求4所述的氡、钍射气子体采样器,其特征在于,所述采样头组件还包括探测器支架盖,所述探测器支架盖设置在所述采样空间的顶部,所述探测器支架盖与所述采样空间的顶部可拆卸连接。

6.根据权利要求5所述的氡、钍射气子体采样器,其特征在于,所述采样扩散腔周壁处设置有多个扩散通孔。

7.根据权利要求6所述的氡、钍射气子体采样器,其特征在于,所述扩散通孔为沿着所述采样扩散腔周壁处均匀分布设置的3个扩散通孔。

8.根据权利要求6所述的氡、钍射气子体采样器,其特征在于,所述采样盒体包括气泵、控制面板以及电池组;所述电池组分别与所述控制面板以及所述气泵电连接实施供电。

9.根据权利要求8所述的氡、钍射气子体采样器,其特征在于,所述气泵与所述采样头组件的底部实现可拆卸连接;所述气泵用于对所述采样头组件实施抽气处理,所述控制面板用于对所述气泵实施的抽气频率进行控制。

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