[实用新型]一种半导体测试探针

说明书

本实用新型公开了一种半导体测试探针，包括保护套和调节板，所述调节板位于保护套内，所述调节板中心处转动连接有转杆，所述转杆下端向下贯穿调节板固定连接有第一斜齿轮，且转杆上端向上贯穿保护套上侧壁设置，所述保护套上侧壁螺纹连接有调节螺栓，所述调节螺栓向下贯穿保护套上侧壁与调节板上侧壁转动连接，所述调节板下侧壁两端对称设置有固定板，每个所述固定板远离保护套的一侧均转动连接有对应的丝杆，所述丝杆远离固定板的一端固定设置有与第一斜齿轮啮合的第二斜齿轮，且丝杆上螺纹连接有对应的移动螺母。本实用新型操作简便，测试效率高，使用过后方便保存，避免空气中的灰尘污染探针，保证了探针能够二次正常使用。

技术领域

本实用新型涉及测试探针设备技术领域，尤其涉及一种半导体测试探针。

背景技术

随着科技的发展，消费者不断地朝着电子产品小巧、轻薄的方向发展，随之对于电子产品的性能检测要求也越来越高，探针已被广泛应用于仪表和测试行业中，是精密测量电阻或者其他电信号最常用的采样手段。

现有的探针由于本身体积过小，在使用后的收容管理以及保存上带来一定的难度，保存不当将直接影响二次测试结果，现有的装置必须用双手操作，操作极为不便，大大影响了探针的测试效率。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中使用后不便保存、操作不便的缺陷，从而提出一种半导体测试探针。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种半导体测试探针，包括保护套和调节板，所述调节板位于保护套内，所述调节板中心处转动连接有转杆，所述转杆下端向下贯穿调节板固定连接有第一斜齿轮，且转杆上端向上贯穿保护套上侧壁设置，所述保护套上侧壁螺纹连接有调节螺栓，所述调节螺栓向下贯穿保护套上侧壁与调节板上侧壁转动连接，所述调节板下侧壁两端对称设置有固定板，每个所述固定板远离保护套的一侧均转动连接有对应的丝杆，所述丝杆远离固定板的一端固定设置有与第一斜齿轮啮合的第二斜齿轮，且丝杆上螺纹连接有对应的移动螺母，所述移动螺母下侧壁固定设置有连接片，所述连接片下侧壁设置有对应的探针，所述保护套下侧壁设置有与探针对应的条型开口，所述探针向下贯穿条型开口设置，且保护套下侧外壁螺纹连接有螺纹套。

优选地,所述调节螺栓上设置有分布均匀的刻度线。

优选地，所述保护套采用透明塑料制作而成。

优选地，每个所述移动螺母上侧壁均设置有对应的限位杆，且调节板上设置有与限位杆匹配的限位槽。

优选地，所述第一斜齿轮上设置有防滑纹。

本实用新型的有益效果是：通过在第一斜齿轮上设置防滑纹，是为了避免转动转杆调节两个探针之间的间距的时候第一斜齿轮与第二斜齿轮之间发生滑动，影响操作的正常进行，通过保护套和螺纹套的设置，不用时可以将螺纹套与保护套螺纹拧接，避免外界的灰尘通过条型开口进入保护套内污染探针，影响探针的二次使用，调节螺栓和转杆的设置，可以实现探针间距和伸出长度的调节，操作简便，提高了测试效率。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种半导体测试探针的结构示意图；

图2为图1中A处的放大图；

图3为本实用新型提出的一种半导体测试探针的螺纹套与保护套配合结构示意图。

图中：1保护套、2调节板、3调节螺栓、4转杆、5丝杆、6移动螺母、7连接片、8探针、9条型开口、10螺纹套、11第一斜齿轮、12第二斜齿轮。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。