[实用新型]一种半导体测试探针

权利要求书

1.一种半导体测试探针，包括保护套(1)和调节板(2)，所述调节板(2)位于保护套(1)内，其特征在于，所述调节板(2)中心处转动连接有转杆(4)，所述转杆(4)下端向下贯穿调节板(2)固定连接有第一斜齿轮(11)，且转杆(4)上端向上贯穿保护套(1)上侧壁设置，所述保护套(1)上侧壁螺纹连接有调节螺栓(3)，所述调节螺栓(3)向下贯穿保护套(1)上侧壁与调节板(2)上侧壁转动连接，所述调节板(2)下侧壁两端对称设置有固定板，每个所述固定板远离保护套(1)的一侧均转动连接有对应的丝杆(5)，所述丝杆(5)远离固定板的一端固定设置有与第一斜齿轮(11)啮合的第二斜齿轮(12)，且丝杆(5)上螺纹连接有对应的移动螺母(6)，所述移动螺母(6)下侧壁固定设置有连接片(7)，所述连接片(7)下侧壁设置有对应的探针(8)，所述保护套(1)下侧壁设置有与探针(8)对应的条型开口(9)，所述探针(8)向下贯穿条型开口(9)设置，且保护套(1)下侧外壁螺纹连接有螺纹套(10)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体测试探针，其特征在于,所述调节螺栓(3)上设置有分布均匀的刻度线。

3.根据权利要求1所述的一种半导体测试探针，其特征在于，所述保护套(1)采用透明塑料制作而成。

4.根据权利要求1所述的一种半导体测试探针，其特征在于，每个所述移动螺母(6)上侧壁均设置有对应的限位杆，且调节板(2)上设置有与限位杆匹配的限位槽。

5.根据权利要求1所述的一种半导体测试探针，其特征在于，所述第一斜齿轮(11)上设置有防滑纹。