[实用新型]一种带限位结构的芯片测试装置

权利要求书

1.一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：包括底板（1），所述底板（1）的顶部设有第一支撑板（2），所述第一支撑板（2）的底部与底板（1）的顶部固定连接，所述底板（1）的上方设有顶板（3），所述顶板（3）的一侧与第一支撑板（2）的一侧固定连接，所述顶板（3）的底部设有芯片测试探针（4），所述芯片测试探针（4）与第一支撑板（2）之间设有调节组件，所述底板（1）的底部固定连接有若干支撑腿（5），所述支撑腿（5）的底部固定连接有固定板（6），所述底板（1）和芯片测试探针（4）之间设有测试板（7），所述测试板（7）与底板（1）之间设有升降组件，所述测试板（7）上设有限位机构，所述限位机构包括开设于测试板（7）顶部的凹槽（8），所述凹槽（8）内设有滑板（9），所述凹槽（8）内设有与滑板（9）相配合的驱动组件，所述滑板（9）的顶部固定连接有两个第二支撑板（10），两个所述第二支撑板（10）相靠近的一侧均设有夹板（11），所述夹板（11）与第二支撑板（10）通过若干弹簧（33）连接。

2.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述调节组件包括开设于第一支撑板（2）一侧的第一螺纹孔（12），所述第一螺纹孔（12）内设有第一丝杆（13），所述第一支撑板（2）远离芯片测试探针（4）的一侧设有旋转块（17），所述第一丝杆（13）的一端与旋转块（17）固定连接，所述第一丝杆（13）的另一端与芯片测试探针（4）通过第一轴承（16）连接，所述顶板（3）的底部开设有第一滑槽（14），所述第一滑槽（14）内设有第一滑块（15），所述第一滑块（15）的底部与芯片测试探针（4）的顶部固定连接。

3.根据权利要求2所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述第一滑槽（14）和第一滑块（15）的横截面均为T形结构，所述旋转块（17）的底部固定连接有第一握把（18）。

4.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述升降组件包括开设于底板（1）顶部的第二螺纹孔（19），所述第二螺纹孔（19）内设有第二丝杆（20），所述第二丝杆（20）的顶部与测试板（7）的底部通过第二轴承（21）连接，所述第二丝杆（20）的底部与位于底板（1）下方的第一转盘（22）固定连接，所述底板（1）的顶部固定连接有两个套管（24），所述套管（24）内设有限位杆（25），所述限位杆（25）的顶端延伸至套管（24）的外部，且所述限位杆（25）的顶部与测试板（7）的底部固定连接。

5.根据权利要求4所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述第一转盘（22）的一侧固定连接有第二握把（23）。

6.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述驱动组件包括开设于滑板（9）一侧的第三螺纹孔（26），所述第三螺纹孔（26）内设有第三丝杆（27），所述第三丝杆（27）的一端与凹槽（8）的一侧内壁通过第三轴承（28）连接，所述第三丝杆（27）的另一端与位于测试板（7）一侧的第二转盘（29）固定连接。

7.根据权利要求6所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述凹槽（8）的底部内壁开设有第二滑槽（31），所述第二滑槽（31）内设有第二滑块（32），所述第二滑块（32）的顶部与滑板（9）的底部固定连接，所述第二转盘（29）远离测试板（7）的一侧固定连接有手柄（30）。

8.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述滑板（9）的顶部开设有第三滑槽（34），所述第三滑槽（34）内设有第三滑块（35），所述第三滑块（35）的顶部与夹板（11）的底部固定连接，所述第三滑槽（34）和第三滑块（35）的横截面均为T形结构。

9.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：两个所述夹板（11）相靠近的一侧均固定连接有防滑垫（36）。