[实用新型]一种集成电路中可靠性分析的测试结构

权利要求书

1.一种集成电路中可靠性分析的测试结构，包括固定于地面的底板(1)，其特征在于，所述底板(1)的形状为矩形的方块，所述底板(1)的上端设有集成电路板(2)，所述集成电路板(2)的上端固定连接有盖板(14)，所述集成电路板(2)于盖板(14)的下方设有用于测试集成电路可靠性的检测机构，所述底板(1)的边缘处设有多个用于卡紧集成电路板(2)的卡合机构。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路中可靠性分析的测试结构，其特征在于，所述检测机构包括设置于集成电路板(2)内部的集成电路，所述集成电路板(2)的右侧固定连接有两个万用表插口(15)，两个所述万用表插口(15)的后端均通过导线与集成电路的内部电性连接，所述集成电路板(2)的左侧设有用于给集成电路通电的集成电路板插口(3)，所述盖板(14)的上端设有与两个万用表插口(15)配合的用于检测集成电路内部电流的万用表(13)。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路中可靠性分析的测试结构，其特征在于，所述卡合机构包括与底板(1)的边缘处固定连接的多个固定杆(4)，所述集成电路板(2)的边缘处设有多个圆口，多个所述固定杆(4)的顶端均贯穿圆口并延伸至集成电路板(2)的外部，所述固定杆(4)的内部通过两个对称设置的固定块(5)固定连接有固定环(6)，所述固定环(6)的中部对称设有两个凹槽(8)，两个所述凹槽(8)的外缘均转动连接有转杆(7)，两个所述转杆(7)的底部均固定连接有固定片(10)，两个所述固定片(10)的后端通过弹簧(12)弹性连接，两个所述转杆(7)的底端均固定连接有用于卡紧集成电路板(2)的卡块(9)。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路中可靠性分析的测试结构，其特征在于，所述转杆(7)的形状为镰刀形。

5.根据权利要求3所述的一种集成电路中可靠性分析的测试结构，其特征在于，所述固定杆(4)的底部对称设有两个条形口，两个所述卡块(9)的前端均贯穿条形口并延伸至固定杆(4)的外部。

6.根据权利要求2所述的一种集成电路中可靠性分析的测试结构，其特征在于，所述万用表(13)的下端固定连接有与万用表插口(15)配合的插头。