[实用新型]一种光学器件激光阻通率测试装置及系统有效

专利信息
申请号: 202020696539.6 申请日: 2020-04-29
公开(公告)号: CN211978286U 公开(公告)日: 2020-11-20
发明(设计)人: 谢石富;杨向通;张龙 申请(专利权)人: 无锡奥普特自动化技术有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人: 殷红梅;陈丽丽
地址: 214029 江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 光学 器件 激光 阻通率 测试 装置 系统
【说明书】:

本实用新型涉及光学仪器仪表技术领域,具体公开了一种光学器件激光阻通率测试装置,其中,包括:光电转换模块、模数转换模块、信号处理模块和同步接口模块,光电转换模块与模数转换模块通信连接,模数转换模块和同步接口模块均与信号处理模块通信连接;光电转换模块用于将待测试的激光信号转换成模拟电信号;模数转换模块用于将模拟电信号转换成数字电信号;同步接口模块用于接收同步信号;信号处理模块用于根据同步信号对数字电信号进行信号处理得到光强数据,并将光强数据发送至上位机。本实用新型还公开了一种光学器件激光阻通率测试系统。本实用新型提供的光学器件激光阻通率测试装置具有结构简单、成本低廉的优势,且体积较小。

技术领域

本实用新型涉及光学仪器仪表技术领域,尤其涉及一种光学器件激光阻通率测试装置及包括该光学器件激光阻通率测试装置的光学器件激光阻通率测试系统。

背景技术

对于光学器件,由于需要测试一个波段内的激光的通阻率,因而需要对光学器件进行一个波段激光进行试通。现有技术中这种可以进行测试的光学设备通常较大且价格昂贵。

因此,如何能够降低成本以及减小体积成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

本实用新型提供了一种光学器件激光阻通率测试装置及包括该光学器件激光阻通率测试装置的光学器件激光阻通率测试系统,解决相关技术中存在的光学设备进行激光阻通率测试的设备体积大且价格昂贵的问题。

作为本实用新型的第一个方面,提供一种光学器件激光阻通率测试装置,其中,包括:光电转换模块、模数转换模块、信号处理模块和同步接口模块,所述光电转换模块与所述模数转换模块通信连接,所述模数转换模块和所述同步接口模块均与所述信号处理模块通信连接;

所述光电转换模块用于将待测试的激光信号转换成模拟电信号;

所述模数转换模块用于将所述模拟电信号转换成数字电信号;

所述同步接口模块用于接收同步信号;

所述信号处理模块用于根据所述同步信号对所述数字电信号进行信号处理得到光强数据,并将所述光强数据发送至上位机。

进一步地,所述光学器件激光阻通率测试装置还包括:存储模块,所述存储模块与所述信号处理模块通信连接,所述存储模块用于存储所述光强数据。

进一步地,所述存储模块包括SDRAM芯片。

进一步地,所述光学器件激光阻通率测试装置还包括:通信模块,所述通信模块与所述信号处理模块通信连接,所述通信模块用于实现所述信号处理模块与所述上位机之间的通信。

进一步地,所述通信模块包括USB通信模块。

进一步地,所述光电转换模块包括PD探头。

进一步地,所述模数转换模块包括型号为AD7655的模数转换芯片。

进一步地,所述信号处理模块包括FPGA芯片。

进一步地,所述同步接口模块包括BNC同步接口。

作为本实用新型的另一个方面,提供一种光学器件激光阻通率测试系统,其中,包括上位机和前文所述的光学器件激光阻通率测试装置,所述上位机与所述光学器件激光阻通率测试装置通信连接;

所述光学器件激光阻通率测试装置用于将待测试的激光信号进行处理后得到光强数据;

所述上位机用于对所述光强数据进行数据分析得到通光宽度。

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