[实用新型]一种光学器件激光阻通率测试装置及系统

权利要求书

1.一种光学器件激光阻通率测试装置，其特征在于，包括：光电转换模块、模数转换模块、信号处理模块和同步接口模块，所述光电转换模块与所述模数转换模块通信连接，所述模数转换模块和所述同步接口模块均与所述信号处理模块通信连接；

所述光电转换模块用于将待测试的激光信号转换成模拟电信号；

所述模数转换模块用于将所述模拟电信号转换成数字电信号；

所述同步接口模块用于接收同步信号；

所述信号处理模块用于根据所述同步信号对所述数字电信号进行信号处理得到光强数据，并将所述光强数据发送至上位机。

2.根据权利要求1所述的光学器件激光阻通率测试装置，其特征在于，所述光学器件激光阻通率测试装置还包括：存储模块，所述存储模块与所述信号处理模块通信连接，所述存储模块用于存储所述光强数据。

3.根据权利要求2所述的光学器件激光阻通率测试装置，其特征在于，所述存储模块包括SDRAM芯片。

4.根据权利要求1至3中任意一项所述的光学器件激光阻通率测试装置，其特征在于，所述光学器件激光阻通率测试装置还包括：通信模块，所述通信模块与所述信号处理模块通信连接，所述通信模块用于实现所述信号处理模块与所述上位机之间的通信。

5.根据权利要求4所述的光学器件激光阻通率测试装置，其特征在于，所述通信模块包括USB通信模块。

6.根据权利要求1至3中任意一项所述的光学器件激光阻通率测试装置，其特征在于，所述光电转换模块包括PD探头。

7.根据权利要求1至3中任意一项所述的光学器件激光阻通率测试装置，其特征在于，所述模数转换模块包括型号为AD7655的模数转换芯片。

8.根据权利要求1至3中任意一项所述的光学器件激光阻通率测试装置，其特征在于，所述信号处理模块包括FPGA芯片。

9.根据权利要求1至3中任意一项所述的光学器件激光阻通率测试装置，其特征在于，所述同步接口模块包括BNC同步接口。

10.一种光学器件激光阻通率测试系统，其特征在于，包括上位机和权利要求1至9中任意一项所述的光学器件激光阻通率测试装置，所述上位机与所述光学器件激光阻通率测试装置通信连接；

所述光学器件激光阻通率测试装置用于将待测试的激光信号进行处理后得到光强数据；

所述上位机用于对所述光强数据进行数据分析得到通光宽度。