[实用新型]芯片测试探针组件的组装工具

说明书

本实用新型揭示了芯片测试探针组件的组装工具，包括探针精确定位座，所述探针精确定位座上形成有一用于放置芯片测试探针组件的固定座的支撑面、用于限定芯片测试探针组件上的测试探针的测试端的位置的限位结构及与所述限位结构正对的用于观察限位结构处的测试探针的测试端的位置精度的观察窗。本方案的探针精确定位座上形成有限位结构，可以有效地对测试探针的测试端的位置进行限定，观察窗的设计能够直观地观察测试探针的测试端的位置情况，并根据观察结果进行相应测试探针的调整以使测试端的斜切平面与定位平面平行，为后续的探针组件的结构固定创造了有利条件，整个工具操作简单，有利于极大地提高组装效率和组装的准确性。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试设备领域，尤其是芯片测试探针组件的组装工具。

背景技术

在如附图4或附图5所示的探针组件中，测试探针的测试端面为斜切平面，而实际使用时，需要使斜切平面与水平面保持极高精度的平行度，目前市场上尚未发现用于上述探针组件组装时，进行探针位置精确定位的工具，因此在实际组装时，测试探针的高精度定位成为限制探针组件快速、可靠组装的重要因素，所以需要设计相应的定位结构以提高组装效率和满足组装精度。

实用新型内容

本实用新型的目的就是为了解决现有技术中存在的上述问题，提供一种芯片测试探针组件的组装工具。

本实用新型的目的通过以下技术方案来实现：

芯片测试探针组件的组装工具，包括探针精确定位座，所述探针精确定位座上形成有一用于放置芯片测试探针组件的固定座的支撑面、用于限定芯片测试探针组件上的测试探针的测试端的位置的限位结构及与所述限位结构正对的用于观察限位结构处的测试探针的测试端的位置精度的观察窗。

优选的，所述的芯片测试探针组件的组装工具中，所述探针精确定位座上形成有用于与所述固定座连接的连接孔。

优选的，所述的芯片测试探针组件的组装工具中，所述限位结构包括与测试探针的测试端形状匹配的三角定位槽，所述三角定位槽的定位平面与支撑面平行，所述观察窗的深度方向垂直于所述定位平面且其内部区域位于所述探针的测试端的端面的覆盖区域内。

优选的，所述的芯片测试探针组件的组装工具还包括折弯推块。

优选的，所述的芯片测试探针组件的组装工具中，所述折弯推块与一位于探针精确定位座上的限定块配合限定测试探针延伸到定位座外部的部分的折弯角度，所述限定块的底面与所述支撑面的间距与固定座的高度相当，且所述限定块由支撑面的外侧延伸到其幅面内。

优选的，所述的芯片测试探针组件的组装工具中，所述折弯推块包括与所述支撑面平行的底面，所述底面与一斜面衔接，所述斜面处形成有一组与未折弯的测试探针的延伸方向一致的插孔或槽，所述斜面与底面的夹角为未折弯的测试探针与底面的夹角的补角。

优选的，所述的芯片测试探针组件的组装工具中，所述探针精确定位座的表面设置防腐性镀镍层。

本实用新型技术方案的优点主要体现在：

本方案的探针精确定位座上形成有限位结构，可以有效地对测试探针的测试端的位置进行限定，同时，观察窗的设计能够直观地观察每个测试探针的测试端的位置情况，并根据观察结果进行相应测试探针的调整以使测试端的斜切平面与定位平面平行，从而保证各测试探针的位置精度，为后续探针组件的结构固定创造了有利条件，并且整个工具在组装时，操作简单，有利于极大地提高组装效率和组装的准确性。

本方案的折弯推块与限定块的配合或其自身结构的设计能够有效地控制最终的折弯角度，保证折弯地精度，为后续保持板的组装提供了便利。

本方案的探针精确定位座可以与固定座固定，以保证探针精确定位座与固定座之间的位置不发生变化，从而为后续测试探针的定位和调整提供稳定的基础条件，有利于保证定位及调整精度。