[实用新型]芯片测试探针组件的组装工具

权利要求书

1.芯片测试探针组件的组装工具，其特征在于：包括探针精确定位座（80），所述探针精确定位座（80）上形成有一用于放置芯片测试探针组件的固定座（71）的支撑面（81）、用于限定芯片测试探针组件上的测试探针的测试端的位置的限位结构及与所述限位结构正对的用于观察限位结构处的测试探针的测试端的位置精度的观察窗（85）。

2.根据权利要求1所述的芯片测试探针组件的组装工具，其特征在于：所述探针精确定位座（80）上形成有用于与所述固定座连接的连接孔（86）。

3.根据权利要求1所述的芯片测试探针组件的组装工具，其特征在于：所述限位结构包括与测试探针的测试端的形状匹配的三角定位槽（82），所述三角定位槽（82）的定位平面（84）与支撑面（81）平行，所述观察窗（85）的深度方向垂直于所述定位平面（84）且其内部区域位于所述探针的测试端的端面的覆盖区域内。

4.根据权利要求1-3任一所述的芯片测试探针组件的组装工具，其特征在于：还包括用于将未折弯的测试探针的伸出到定位座上方外的部分折弯的折弯推块（90）。

5.根据权利要求4所述的芯片测试探针组件的组装工具，其特征在于：所述折弯推块（90）与一位于探针精确定位座（80）上的限定块（87）配合限定测试探针延伸到定位座外部的部分的折弯角度，所述限定块（87）的底面与所述支撑面的间距与固定座的高度相当，且所述限定块（87）由支撑面（81）的外侧延伸到其幅面内。

6.根据权利要求4所述的芯片测试探针组件的组装工具，其特征在于：所述折弯推块（90）包括与所述支撑面（81）平行的底面（93），所述底面（93）与一斜面（92）衔接，所述斜面（92）处形成有一组与未折弯的测试探针的延伸方向一致的插孔或槽（91），所述斜面（92）与底面（93）的夹角为未折弯的测试探针与底面（93）的夹角的补角。

7.根据权利要求1所述的芯片测试探针组件的组装工具，其特征在于：所述探针精确定位座（80）的表面设置防腐性镀镍层。