[实用新型]一种新型半导体激光器测试装置

说明书

本实用新型提供了一种新型半导体激光器测试装置，包括测试插座孔，Z轴顶紧旋钮，X轴调节旋钮，被测试激光器，Y轴调节部件，电路板，电路插座，光路测试用光纤，光参数测试仪；所述电路插座插装在测试插座孔内；所述被测试激光器的插针脚穿过测试插座孔插在电路插座的针孔内，形成与电路板的电路接触连接；所述底座的前端面具有Z轴顶紧旋钮；所述底座的右端面前部具有X轴调节旋钮；所述Y轴调节部件的底端位于底座槽口内；所述光参数测试仪的测试输入端与光路测试用光纤及光纤陶瓷插芯的芯管里的光纤光路相通。本实用新型达到了提高半导体激光器测试效率，提高了光参数测试精度和准确度，使用效果良好。

技术领域

本实用新型涉及半导体激光器测试的技术领域，尤其涉及了一种新型半导体激光器测试装置。

背景技术

现有的半导体激光器测试一般为人工对准测试方式，测试效率低，光参数测试精度和准确度低，无法满足大批量产品的生产要求。

现有的半导体激光器测试，如何提高测试效率，提高光参数测试精度和准确度，满足批量半导体激光器产品的生产要求，这是我们需要解决的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种新型半导体激光器测试装置，解决上述背景技术中提出的问题。

为解决上述提到的需解决的问题，本实用新型提供了以下技术方案：一种新型半导体激光器测试装置，包括测试插座孔，底座，Z轴顶紧旋钮，X轴调节旋钮，被测试激光器，Y轴调节部件，铜散热片，电路板，电路插座，光路测试用光纤，摆臂光纤陶瓷插芯，光参数测试仪；所述电路板通过电路板固定螺栓安装在底座的后部；所述电路插座位于电路板的前端；所述电路插座通过电路插座固定块和电路插座固定块螺栓固定在底座中部；所述铜散热片通过铜散热片固定螺栓固定于底座偏前位置；所述测试插座孔为贯通孔位于铜散热片中部；电路插座插装在测试插座孔内；所述被测试激光器的插针脚穿过测试插座孔插在电路插座的针孔内，形成与电路板的电路接触连接；所述被测试激光器的顶端通过激光器压环，激光器压块，激光器压块拧紧旋钮顶压在铜散热片的测试插座孔的前部；所述底座的前部具有底座槽口；所述底座的前端面具有Z轴顶紧旋钮；所述底座的右端面前部具有X轴调节旋钮；所述 X轴调节旋钮的顶部卡头，旋转穿过底座右端面螺纹孔与Y轴调节部件底座的右端C型卡槽可转动连接；所述Y轴调节部件的底端位于底座槽口内；所述光参数测试仪通过光路测试用光纤与摆臂光纤陶瓷插芯连接；所述光路测试用光纤穿出光纤陶瓷插芯的芯管端面并齐平；所述光参数测试仪的测试输入端与光路测试用光纤及光纤陶瓷插芯的芯管里的光纤光路相通。

进一步地，所述Y轴调节部件包括有Y轴调节部件底座，Y轴调节部件立柱，Y轴调节块， Y轴调节块压盖，Y轴调节旋钮，Y轴调节部件摆臂，摆臂光纤陶瓷插座顶丝，摆臂光纤陶瓷插座；所述Y轴调节部件底座位于底座槽口内，可前后左右滑动；所述Y轴调节部件立柱底部插头插入到Y轴调节部件底座的插口内；所述Y轴调节部件立柱底部和Y轴调节部件底座通过Y轴调节部件立柱固定螺栓7-1固定；所述Y轴调节旋钮旋转穿过Y轴调节块压盖顶部的螺纹孔后，Y轴调节旋钮的顶端卡头，卡在Y轴调节块的顶部的内孔环形卡槽内可转动连接；摆臂拧紧螺栓穿过Y轴调节块中部的横向孔后，插入并固定到Y轴调节部件摆臂中部的横向孔中；所述Y轴调节块安装在Y轴调节块压盖的下部内孔和Y轴调节部件立柱的上部内孔之间；所述Y轴调节块压盖的下部和Y轴调节部件立柱的上部通过Y轴调节块压盖螺栓连接固定；所述摆臂光纤陶瓷插座安置于Y轴调节部件摆臂的下端的纵向孔内；所述摆臂光纤陶瓷插座顶丝旋转穿过Y轴调节部件摆臂的左侧下端横向螺丝孔，顶住摆臂光纤陶瓷插座于 Y轴调节部件摆臂的下端的纵向孔内，所述摆臂光纤陶瓷插芯插装于摆臂光纤陶瓷插座内。