[实用新型]一种新型半导体激光器测试装置有效

专利信息
申请号: 202020571750.5 申请日: 2020-04-14
公开(公告)号: CN211784208U 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 李艳青;李飞;程世超;黄宁博;李程;侯作为 申请(专利权)人: 河南仕佳信息技术研究院有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 458030 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 一种 新型 半导体激光器 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种新型半导体激光器测试装置,包括测试插座孔(2),底座(3),Z轴顶紧旋钮(4),X轴调节旋钮(5),被测试激光器(6),Y轴调节部件(7),铜散热片(12),电路板(16),电路插座(17),光路测试用光纤(7-4),摆臂光纤陶瓷插芯(7-13),光参数测试仪(18);其特征在于:所述电路板(16)通过电路板固定螺栓(15)安装在底座(3)的后部;所述电路插座(17)位于电路板(16)的前端;所述电路插座(17)通过电路插座固定块(14)和电路插座固定块螺栓(13)固定在底座(3)中部;所述铜散热片(12)通过铜散热片固定螺栓(11)固定于底座(3)偏前位置;所述测试插座孔(2)为贯通孔位于铜散热片(12)中部;电路插座(17)插装在测试插座孔(2)内;所述被测试激光器(6)的插针脚穿过测试插座孔(2)插在电路插座(17)的针孔内,形成与电路板(16)的电路接触连接;所述被测试激光器(6)的顶端通过激光器压环(8),激光器压块(9),激光器压块拧紧旋钮(10)顶压在铜散热片(12)的测试插座孔(2)的前部;所述底座(3)的前部具有底座槽口(1);所述底座(3)的前端面具有Z轴顶紧旋钮(4);所述底座(3)的右端面前部具有X轴调节旋钮(5);所述X轴调节旋钮(5)的顶部卡头,旋转穿过底座(3)右端面螺纹孔与Y轴调节部件底座(7-2)的右端C型卡槽可转动连接;所述Y轴调节部件(7)的底端位于底座槽口(1)内;所述光参数测试仪(18)通过光路测试用光纤(7-4)与摆臂光纤陶瓷插芯(7-13)连接;所述光路测试用光纤(7-4)穿出光纤陶瓷插芯(7-13)的芯管端面并齐平;所述光参数测试仪(18)的测试输入端与光路测试用光纤(7-4)及光纤陶瓷插芯(7-13)的芯管里的光纤光路相通。

2.根据权利要求1所述一种新型半导体激光器测试装置,其特征在于所述Y轴调节部件(7)包括有Y轴调节部件底座(7-2),Y轴调节部件立柱(7-3),Y轴调节块(7-6),Y轴调节块压盖(7-7),Y轴调节旋钮(7-8),Y轴调节部件摆臂(7-10),摆臂光纤陶瓷插座顶丝(7-11),摆臂光纤陶瓷插座(7-12);所述Y轴调节部件底座(7-2)位于底座槽口(1)内,可前后左右滑动;所述Y轴调节部件立柱(7-3)底部插头插入到Y轴调节部件底座(7-2)的插口内;所述Y轴调节部件立柱(7-3)底部和Y轴调节部件底座(7-2)通过Y轴调节部件立柱固定螺栓(7-1)固定;所述Y轴调节旋钮(7-8)旋转穿过Y轴调节块压盖(7-7)顶部的螺纹孔后,Y轴调节旋钮(7-8)的顶端卡头,卡在Y轴调节块(7-6)的顶部的内孔环形卡槽内可转动连接;摆臂拧紧螺栓(7-5)穿过Y轴调节块(7-6)中部的横向孔后,插入并固定到Y轴调节部件摆臂(7-10)中部的横向孔中;所述Y轴调节块(7-6)安装在Y轴调节块压盖(7-7)的下部内孔和Y轴调节部件立柱(7-3)的上部内孔之间;所述Y轴调节块压盖(7-7)的下部和Y轴调节部件立柱(7-3)的上部通过Y轴调节块压盖螺栓(7-9)连接固定;所述摆臂光纤陶瓷插座(7-12)安置于Y轴调节部件摆臂(7-10)的下端的纵向孔内;所述摆臂光纤陶瓷插座顶丝(7-11)旋转穿过Y轴调节部件摆臂(7-10)的左侧下端横向螺丝孔,顶住摆臂光纤陶瓷插座(7-12)于Y轴调节部件摆臂(7-10)的下端的纵向孔内;所述摆臂光纤陶瓷插芯(7-13)插装于摆臂光纤陶瓷插座(7-12)内。

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