[实用新型]一种芯片加热测试机构

说明书

本实用新型公开了一种芯片加热测试机构，包包括连接单元、测试单元、加热单元及传动结构，连接单元包含治具连接板，测试单元包含基座，加热单元包含加热盘，传动结构包含连接基板、吸嘴固定块、压块、吸嘴。本实用新型的有益效果是：芯片通过传动结构抓取、放置，芯片放置位置精准，传动结构无需调整，工序少，节省工时，提高了芯片的检测效率，垫片槽内的支撑垫片、销钉可防止芯片在传动过程中因过压而损伤，提高芯片检测的合格率，减少损失，压块可保护吸嘴不会因高温而损坏，同时加热盘采用机加工制作，且本实用的测试机构可同时检测四个芯片，加热盘可放置多个芯片，可同时对上百个芯片进行加热测试，效率高。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种芯片加热测试机构。

背景技术

随着科技的发展，芯片产业发展越来越快，芯片的小型化、多功能是现代芯片产业的发展趋势。由于芯片生产需经过几百步的工艺，任何一步的错误都可能导致器件失效，因此芯片检测环节至关重要，采用好的芯片测试机构可以提高芯片生产的合格率。常见的芯片检测机构，往往只能一次检测一个或两个芯片，检测效率低下，且芯片在传动过程中没有保护，经常出现过压导致的压伤、损坏，使芯片造成极大的浪费，且芯片每种检测，都需要更换设备，工序繁琐，检测效率低，且在更换设备时，芯片在搬运过程中容易出现坏损，造成极大的损失。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片加热测试机构，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片加热测试机构，包括连接单元、测试单元、加热单元及传动结构，所述连接单元包含治具连接板，所述治具连接板上设有四个直线排列的第一芯片槽，所述治具连接板上设有四个方形排列的垫片槽，所述垫片槽对称布置在第一芯片槽的前后两侧；

所述测试单元包含基座，所述基座上设有直线排列的四个第二芯片槽和四个第二销钉，所述第二芯片槽的前后两侧分别设有第二感应槽、第一感应槽；

所述加热单元包含加热盘，所述加热盘上开设有第三芯片槽，所述加热盘的左右两侧设有把手；

所述传动结构包含连接基板、吸嘴固定块、压块、吸嘴，所述吸嘴固定块固定在连接基板上，所述压块设置于吸嘴固定块的下方并和连接基板连接，所述吸嘴固定在吸嘴固定块上并和连接基板、压块连接。

进一步优选，所述治具连接板上设有四个第一销钉，其布置于第一芯片槽的两侧，相邻两个所述第一销钉间的距离和相邻两个第二销钉间的距离相等，所述垫片槽内连接有支撑垫片。

进一步优选，所述压块上设有两个定位孔，两个所述定位孔间的距离和相邻两个第二销钉间的距离相等。

进一步优选，所述第一芯片槽、第三芯片槽均采用通槽设计，所述第二芯片槽采用盲槽设计，其槽底设有通孔。

进一步优选，所述传动结构设有两个吸嘴及两个吸嘴固定块，相邻的两个所述第一芯片槽、两个第二芯片槽、两个第三芯片槽间的距离均和两个吸嘴间的距离相等。

进一步优选，所述第三芯片槽采用多槽位设计，均匀布置在加热盘上。

进一步优选，所述加热盘上的第三芯片槽采用机加工切割设计。

进一步优选，所述第一感应槽和第二感应槽的深度不相等，二者呈一条直线设计，且从第二芯片槽的中心穿过。

有益效果

本实用新型的芯片加热测试机构，是一种高精度的芯片测试机构，芯片通过传动结构抓取、放置，芯片放置位置精准，传动结构无需调整，工序少，节省工时，提高了芯片的检测效率，垫片槽内的支撑垫片、销钉可防止芯片在传动过程中因过压而损伤，提高芯片检测的合格率，减少损失，压块可保护吸嘴不会因高温而损坏，同时加热盘采用机加工制作，且本实用的测试机构可同时检测四个芯片，加热盘可放置多个芯片，可同时对上百个芯片进行加热测试，效率高。