[实用新型]一种试条检测仪器的测试工装点检系统

权利要求书

1.一种试条检测仪器的测试工装点检系统，其特征在于，包括：

采集子系统、控制子系统及分析子系统；

所述采集子系统具有N个测量通道，所述N为不小于1的正整数；

所述控制子系统包括微处理器、M个双通道继电器、开始继电器、复位继电器及N组试条插座，所述N组试条插座中每组包括X种不同的插座类型，每一种插座类型的试条插条对应一种标准试条，所述M为大于1的正整数，所述X为大于1的正整数；

所述M个双通道继电器、所述开始继电器及所述复位继电器分别与所述微处理器连接，所述开始继电器及所述复位继电器均与所述试条检测仪器的测试工装连接，所述M个双通道继电器组成N行和M/N列的继电器矩阵，所述M/N为正整数；

所述N组试条插座中每组试条插座均与所述试条检测仪器的测试工装连接，所述N组试条插座与所述继电器矩阵的N行双通道继电器一一对应，每组试条插座的输出端均与对应N行的所有双通道继电器连接；

所述N个测量通道分别与所述继电器矩阵的N行双通道继电器一一对应的连接；

所述微处理器，用于通过所述开始继电器和所述复位继电器，控制所述试条检测仪器的测试工装进入点检模式；

所述微处理器，还用于控制双通道继电器导通或关断，所述双通道继电器导通时与所述试条插座连接，所述双通道继电器关断时与所述试条插座断开；

所述采集子系统，用于通过所述N个测量通道获取对应试条插座的标准试条的点检测量数据；

所述微处理器，还用于对所述点检测量数据进行处理，得到所述标准试条的点检阻抗值；

所述分析子系统，用于对所述标准试条的点检阻抗值进行分析，得到点检结果。

2.根据权利要求1所述的测试工装点检系统，其特征在于，通过扫描方式获取每一种试条插座对应的标准试条的点检测量数据，

所述微处理器控制所述继电器矩阵使得所述N组试条插座中同一类型的试条插座接入，所述采集子系统通过所述N个测量通道分别获取到所述N组试条插座中同一类型的试条插座的点检测量数据。

3.根据权利要求1所述的测试工装点检系统，其特征在于，

所述微处理器控制所述继电器矩阵使得所述N组试条插座中特定试条插座接入，所述采集子系统通过所述特定试条插座对应的测量通道获取到所述特定试条插座的点检测量数据。

4.根据权利要求1所述的测试工装点检系统，其特征在于，所述采集子系统包括N个万用表，万用表包括万用表通信模块及测量模块，所述万用表通信模块与所述微处理器建立通信连接，所述万用表分别与所述继电器矩阵的N行双通道继电器一一对应的连接，

所述测量模块，用于通过测量通道获取对应试条插座的标准试条的点检测量数据；

所述万用表通信模块，用于将所述点检测量数据发送至所述微处理器。

5.根据权利要求4所述的测试工装点检系统，其特征在于，所述万用表为4线制模式。

6.根据权利要求5所述的测试工装点检系统，其特征在于，所述控制子系统还包括：

万用表数据接口、万用表通信接口及分析子系统通信接口；

所述万用表数据接口与所述万用表对应的双通道继电器连接；

所述万用表通信接口与所述万用表通信模块及所述微处理器连接；

所述分析子系统通信接口与所述分析子系统及所述微处理器连接。

7.根据权利要求6所述的测试工装点检系统，其特征在于，所述微处理器包括：

万用表通信单元、分析子系统通信单元、数据处理单元及控制单元；

所述万用表通信单元，用于通过所述万用表通信接口与所述万用表建立通信连接，接收所述万用表发送的所述点检测量数据；

所述数据处理单元，用于对所述点检测量数据进行处理，得到所述标准试条的点检阻抗值；

所述分析子系统通信单元，用于通过分析子系统通信接口与所述分析子系统建立通信连接，将所述标准试条的点检阻抗值发送至所述分析子系统；

所述控制单元，用于控制所述M个双通道继电器、所述开始继电器及所述复位继电器。