[实用新型]一种全温下的性能测试装置

权利要求书

1.一种全温下的性能测试装置，其特征在于，包括暗室(1)和温箱(2)，所述暗室(1)的一侧与所述温箱(2)的一侧连接；

所述暗室(1)包括密封件(14)、第一壳体(15)和用于发出测试信号的测试件(13)；所述第一壳体(15)上设置有第一开口，所述密封件(14)与所述第一开口连接形成密闭的第一腔体，所述测试件(13)设置在所述第一腔体内；

所述温箱(2)包括第二壳体(27)和用于固定被测件(21)的固定件；所述第二壳体(27)上设置有第二开口，所述密封件(14)与所述第二开口连接形成密闭的第二腔体，所述固定件设置在所述第二腔体内；

所述固定件能够固定所述被测件(21)以使所述被测件(21)的相位中心与所述测试件(13)的相位中心对齐，所述测试件(13)能够通过所述密封件(14)将所述测试信号传至所述第二腔体。

2.根据权利要求1所述的一种全温下的性能测试装置，其特征在于，所述固定件为转台，所述转台的一端与所述第二壳体(27)连接，所述转台的另一端与所述被测件(21)连接。

3.根据权利要求2所述的一种全温下的性能测试装置，其特征在于，所述转台包括第一转台(25)和设置在所述第一转台(25)上的第二转台(26)，所述第一转台(25)与所述第二转台(26)连接；

所述第一转台(25)上设置有第一轴，所述第二转台(26)能够绕着所述第一轴转动；

所述第二转台(26)设置有第二轴，所述被测件(21)能够绕着所述第二轴转动。

4.根据权利要求1所述的一种全温下的性能测试装置，其特征在于，所述固定件为支撑架，所述支撑架的一端与所述第二壳体(27)连接，所述支撑架的另一端与所述被测件(21)固定连接。

5.根据权利要求4所述的一种全温下的性能测试装置，其特征在于，所述支撑架包括固定板(23)和伸缩杆(22)，所述固定板(23)的一侧与所述第二壳体(27)固定连接，所述固定板(23)的另一侧与所述伸缩杆(22)的一端连接，所述伸缩杆(22)的另一端与所述被测件(21)固定连接。

6.根据权利要求3或5所述的一种全温下的性能测试装置，其特征在于，所述暗室(1)还包括夹持件(12)，所述夹持件(12)的一端与所述第一壳体(15)连接，所述夹持件(12)的另一端与所述测试件(13)连接。

7.根据权利要求6所述的一种全温下的性能测试装置，其特征在于，所述密封件(14)为透波门。

8.根据权利要求7所述的一种全温下的性能测试装置，其特征在于，所述测试件(13)与所述第一开口相对设置，所述测试件(13)为天线或平面波生成器。

9.根据权利要求8所述的一种全温下的性能测试装置，其特征在于，所述第二壳体(27)的内壁上设置有第二吸波材料层(24)，所述第一壳体(15)的内壁上均设置有第一吸波材料层(11)。