[实用新型]一种存储芯片测试夹具有效
申请号: | 202020118527.5 | 申请日: | 2020-01-19 |
公开(公告)号: | CN212060331U | 公开(公告)日: | 2020-12-01 |
发明(设计)人: | 丛维;金生 | 申请(专利权)人: | 上海优村科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201203 上海市浦东新区中国(*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 存储 芯片 测试 夹具 | ||
本实用新型公开了一种存储芯片测试夹具,属于存储芯片技术领域,其包括底板,所述底板的上表面固定连接有推动装置,所述推动装置的上表面与PCB电路板的下表面搭接,所述底板的上表面固定连接有步进电机,所述步进电机的输出轴固定连接有支撑板。该存储芯片测试夹具,通过步进电机、电动推杆、压板、滑杆和第一弹簧之间的相互配合,从而使得本装置可以对储存器固定工作更加简捷方便,使其过程比较省时省力,而且本装置在固定的同时可以对引脚进行拉伸,提高引脚的水平度,使其可以更好的保证对储存器的测试工作,同时储存器在测试时工作人员可以继续进行另一储存器定位工作,进一步节省了大量时间,从而给工作人员的工作带来了方便。
技术领域
本实用新型属于存储芯片技术领域,具体为一种存储芯片测试夹具。
背景技术
在存储芯片进行测试的过程中,通常需要先使用测试夹具对存储芯片进行固定之后使用到下压的方式对其进行测试,但是普通的测试夹具在使用时往往需要工作人员拧松或者拧紧螺栓来固定芯片,并且测试还需要一定的时间,使得工作人员需要等待测试完成之后将芯片取下并放置新的芯片进行固定才能再次测试,使得测试过程较为麻烦,而且会浪费大量时间,并且普通的下压方式往往只是简单的对待测芯片顶部加压,而这种下压方式可能存在以下问题,由于芯片封装的公差,芯片引脚不一定和芯片底部在同一个水平面上,甚至可能矮于芯片底部,这样传统的下压方式就没法保证芯片的引脚和PCBPCB电路板接触良好,使得测试结果可能会出现偏差,从而不便于使用,因此,需要一种便于使用的存储芯片测试夹具来解决上述问题。
实用新型内容
(一)解决的技术问题
为了克服现有技术的上述缺陷,本实用新型提供了一种存储芯片测试夹具,解决了普通的测试夹具在使用时较为麻烦,而且会浪费大量时间,并且普通的下压方式往往只是简单的对待测芯片顶部加压,从而难以保证芯片的引脚和PCBPCB电路板接触良好,使得测试结果可能会出现偏差,从而不便于使用的问题。
(二)技术方案
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种存储芯片测试夹具,包括底板,所述底板的上表面固定连接有推动装置,所述推动装置的上表面与PCB电路板的下表面搭接,所述底板的上表面固定连接有步进电机,所述步进电机的输出轴固定连接有支撑板,所述支撑板的上表面固定连接有四个固定板,所述固定板的上表面卡接有两个滑套,两个所述滑套的上表面通过两个第一弹簧与压板的下表面固定连接。
所述第一弹簧套接在滑杆的外表面,所述滑杆固定连接在压板的下表面,所述滑杆套接在滑套内,所述滑杆的左侧面开设有卡槽,所述卡槽内设置有卡块,所述卡块的左侧面通过第一伸缩装置与连接板的右侧面固定连接,所述连接板固定连接在固定板的下表面,两个所述滑杆的底端固定连接有套筒。
所述套筒设置在储存器的外表面,所述储存器搭接在支撑台的上表面,所述支撑台固定连接在支撑板的右侧面,所述储存器的正面和背面均设置有若干个引脚,所述引脚搭接在连接块的下表面,所述连接块的上表面通过第二伸缩装置与固定块的下表面固定连接,所述固定块固定连接在套筒的正面。
作为本实用新型的进一步方案:所述推动装置包括电动推杆,所述电动推杆固定连接在底板的上表面,所述电动推杆的顶端固定连接有放置板,所述放置板搭接在PCB电路板的下表面。
作为本实用新型的进一步方案:所述第一伸缩装置包括第一伸缩杆,所述第一伸缩杆的外表面套接有第二弹簧,所述第二弹簧和第一伸缩杆的两端分别与卡块的左侧面和连接板的右侧面固定连接。
作为本实用新型的进一步方案:所述支撑台的上表面设置有橡胶垫,所述储存器搭接在橡胶垫的上表面。
作为本实用新型的进一步方案:所述第二伸缩装置包括第二伸缩杆,所述第二伸缩杆的外表面套接有第三弹簧,所述第三弹簧和第二伸缩杆的两端分别与固定块的下表面和连接块的上表面固定连接。
(三)有益效果
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