[实用新型]一种存储芯片测试夹具

权利要求书

1.一种存储芯片测试夹具，包括底板（1），其特征在于：所述底板（1）的上表面固定连接有推动装置（3），所述推动装置（3）的上表面与PCB电路板（4）的下表面搭接，所述底板（1）的上表面固定连接有步进电机（2），所述步进电机（2）的输出轴固定连接有支撑板（5），所述支撑板（5）的上表面固定连接有四个固定板（6），所述固定板（6）的上表面卡接有两个滑套（7），两个所述滑套（7）的上表面通过两个第一弹簧（9）与压板（8）的下表面固定连接；

所述第一弹簧（9）套接在滑杆（16）的外表面，所述滑杆（16）固定连接在压板（8）的下表面，所述滑杆（16）套接在滑套（7）内，所述滑杆（16）的左侧面开设有卡槽（10），所述卡槽（10）内设置有卡块（11），所述卡块（11）的左侧面通过第一伸缩装置（13）与连接板（15）的右侧面固定连接，所述连接板（15）固定连接在固定板（6）的下表面，两个所述滑杆（16）的底端固定连接有套筒（17）；

所述套筒（17）设置在储存器（18）的外表面，所述储存器（18）搭接在支撑台（19）的上表面，所述支撑台（19）固定连接在支撑板（5）的右侧面，所述储存器（18）的正面和背面均设置有若干个引脚（20），所述引脚（20）搭接在连接块（21）的下表面，所述连接块（21）的上表面通过第二伸缩装置（12）与固定块（14）的下表面固定连接，所述固定块（14）固定连接在套筒（17）的正面。

2.根据权利要求1所述的一种存储芯片测试夹具，其特征在于：所述推动装置（3）包括电动推杆（31），所述电动推杆（31）固定连接在底板（1）的上表面，所述电动推杆（31）的顶端固定连接有放置板（32），所述放置板（32）搭接在PCB电路板（4）的下表面。

3.根据权利要求1所述的一种存储芯片测试夹具，其特征在于：所述第一伸缩装置（13）包括第一伸缩杆（131），所述第一伸缩杆（131）的外表面套接有第二弹簧（132），所述第二弹簧（132）和第一伸缩杆（131）的两端分别与卡块（11）的左侧面和连接板（15）的右侧面固定连接。

4.根据权利要求1所述的一种存储芯片测试夹具，其特征在于：所述支撑台（19）的上表面设置有橡胶垫，所述储存器（18）搭接在橡胶垫的上表面。

5.根据权利要求1所述的一种存储芯片测试夹具，其特征在于：所述第二伸缩装置（12）包括第二伸缩杆（121），所述第二伸缩杆（121）的外表面套接有第三弹簧（122），所述第三弹簧（122）和第二伸缩杆（121）的两端分别与固定块（14）的下表面和连接块（21）的上表面固定连接。