[实用新型]硅片的清洗甩干装置有效
申请号: | 202020028853.7 | 申请日: | 2020-01-07 |
公开(公告)号: | CN211125597U | 公开(公告)日: | 2020-07-28 |
发明(设计)人: | 杨兆明;颜凯;中原司 | 申请(专利权)人: | 浙江芯晖装备技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 嘉兴海创专利代理事务所(普通合伙) 33251 | 代理人: | 曾勇 |
地址: | 314400 浙江省嘉兴市海宁市海*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 硅片 清洗 装置 | ||
本实用新型提供了一种硅片的清洗甩干装置,属于机械技术领域。它解决了现有技术存在着稳定性差的问题。本硅片的清洗甩干装置包括机架,还包括旋转轴、罩筒、喷气管和喷水管,上述旋转轴竖直设置且旋转轴下端轴向固连在机架上,所述旋转轴上端具有用于定位硅片的定位部,上述罩筒与旋转轴同轴心线设置且罩筒套在旋转轴上,所述机架与罩筒之间具有驱动机构,驱动机构能带动罩筒相对于旋转轴上下移动,初始状态时罩筒位于定位部的下部处,当驱动机构带动罩筒上移后罩筒能将定位部完全罩住。本硅片的清洗甩干装置稳定性高。
技术领域
本实用新型属于机械技术领域,涉及一种硅片的清洗甩干装置。
背景技术
硅片研磨完成后需对对其研磨面进行水洗,水洗后能去除硅片表面的残留物。然后再通过吹气的方式将硅片研磨面处的水分甩干。
现有作业生产中是水洗和吹气是两道独立的工序,这样导致硅片需要在不同的工序处进行加工作业,导致工序复杂且适当的降低了作业效率。
发明内容
本实用新型的目的是针对现有技术存在的上述问题,提供一种稳定性高且结构紧凑的硅片的清洗甩干装置。
本实用新型的目的可通过下列技术方案来实现:
一种硅片的清洗甩干装置,包括机架,其特征在于,还包括旋转轴、罩筒、喷气管和喷水管,上述旋转轴竖直设置且旋转轴下端轴向固连在机架上,所述旋转轴上端具有用于定位硅片的定位部,上述罩筒与旋转轴同轴心线设置且罩筒套在旋转轴上,所述机架与罩筒之间具有驱动机构,驱动机构能带动罩筒相对于旋转轴上下移动,初始状态时罩筒位于定位部的下部处,当驱动机构带动罩筒上移后罩筒能将定位部完全罩住。
本清理装置创造性的通过旋转轴上的定位部对硅片定位。清理过程中首先罩筒上移将定位部罩住。
然后喷水管喷射的水对硅片表面进行清洗,在清洗过程中旋转轴带动连接在定位部处的硅片转动,这样进一步提高清洗效果。
待清洗完成后,停止供水。接着通过喷气管对硅片的清洗处进行吹动,稳定去除硅片清洗面处的水。
可以看出,在喷水和喷气过程中罩筒始终将定位部罩住,这样能避免清洗过程中飞溅的水杯罩筒阻挡,避免作业过程中水四处飞溅。
在上述的硅片的清洗甩干装置中,所述旋转轴中心处具有吸附管,吸附管下端用于与气泵相连接,硅片受到吸附管上端的吸附后能抵靠在定位部处。
气泵运作时通过吸附管产生的负压将硅片稳定的定位在定位部处。
在上述的硅片的清洗甩干装置中,所述定位部呈平面状,上述硅片与定位部之间能面接触。
这样能提高硅片与定位部之间的连接稳定性。
在上述的硅片的清洗甩干装置中,所述喷气管固连在机架上,喷气管上端具有弯折的出气段且出气段靠近于上述定位部。
这样的结构能使水稳定的喷射至定位部处。
在上述的硅片的清洗甩干装置中,所述喷水管固连在机架上,喷水管上端具有弯折的出水段且出水段靠近于上述定位部。
这样的结构能使气流稳定的进入定位部处。
在上述的硅片的清洗甩干装置中,所述机架上具有凸出的连接部,上述喷气管和喷水管中部均固连在连接部处。
通过连接部能将喷气管和喷水管稳定的连接在机架上。
在上述的硅片的清洗甩干装置中,所述驱动机构包括固连在机架上的气缸,气缸的缸体固连在机架上,气缸的活塞杆与罩筒固连。
气缸能带动罩筒稳定的上下平移。
在上述的硅片的清洗甩干装置中,所述机架上固连有电机,电机与旋转轴连接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江芯晖装备技术有限公司,未经浙江芯晖装备技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202020028853.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种装饰灯
- 下一篇:防抖云台马达、照相装置与电子设备
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造