[实用新型]用于测试存储器的安全逻辑电路的电路

说明书

本公开的各实施例涉及用于测试存储器的安全逻辑电路的电路。解码器，对存储器地址进行解码并选择性地驱动存储器的选择线(诸如字线或mux线)。解码电路，对选择线上的数据进行编码以生成编码地址。编码地址和存储器地址由比较电路进行比较，以生成指示解码器是否正常操作的测试结果信号。为了测试比较电路正常操作，MBIST扫描例程的子集使编码地址从比较电路被阻塞，并且使强制信号应用在其位置中。来自扫描例程的测试信号和强制信号然后由比较电路进行比较，其中由比较电路生成的测试结果信号指示比较电路本身是否正常操作。根据本公开的实施例的优点在于，可以准确地测试并检测比较器电路信号上的故障。

技术领域

本公开总体上涉及用于测试存储器的安全逻辑电路的电路。

背景技术

图1示出了集成电路存储器10的简化框图。存储器包括存储器内核12，存储器内核12具有按行和列布置的存储器单元(C)14的阵列，其中行与字线16相关联并且列是相关联的位线18。存储器单元14可以例如是随机存取存储器(SRAM)单元。字线16由行解码器20选择性地驱动，该行解码器20接收地址总线22上的存储器地址并对存储器地址的所接收的地址位(或其子集)进行解码，以选择字线16中的一个字线以用于致动(例如，被驱动为逻辑高)。存储器10还包括耦合到地址总线22的列解码器24。列解码器24还接收地址总线22上的存储器地址并对存储器地址的所接收的地址位(或其子集)进行解码，以生成列复用器(mux)线19上的信号，列复用器(mux)线19上的信号选择耦合到输入/输出(I/O)电路28的多个位线18。

在写入模式中，写入数据被应用到I/O电路28处的输入数据线，并且存储器地址被应用到地址总线22，其中存储器地址的位指定存储器内核12内的写入数据要被存储的位置。行解码器20和列解码器24对存储器地址的所接收的地址位进行解码并选择与该存储器地址相对应的字线16和mux线19(其控制列复用器21操作，以选择位线18)。将写入数据保存在所选择的字线16和位线18处的存储器单元14中的写操作然后被执行。

在读取模式中，存储器地址被应用到地址总线22，其中存储器地址的位指定存储器内核12内的要从中取回读取数据的位置。行解码器20和列解码器24对存储器地址的所接收的地址位进行解码并选择针对该存储器地址的字线16和mux线19(其控制列复用器21操作，以选择位线18)。取回在所选择的字线16和位线18处的存储器单元14中存储的读取数据的读操作然后被执行，并且读取数据由I/O电路28输出到输出数据线。

存储器10还包括安全逻辑电路30，该安全逻辑电路30监测由存储器10执行的操作(诸如，例如，以上讨论的写操作或读操作)并响应于由安全逻辑对软故障或硬故障的检测而生成输出错误标记(SELOK)，该软故障或硬故障可能导致错误写入的数据或错误读取的数据。例如，安全逻辑电路30当访问存储器阵列12时监测由诸如行解码器或列解码器的解码器电路做出的选择的准确性，并且如果做出正确选择(即，没有检测到故障)，则输出错误标记(SELOK)可以为逻辑高，并且如果做出不正确选择(即，检测到故障)，则输出错误标记(SELOK)可以为逻辑低。更具体地，考虑其中安全逻辑电路30监测由行解码器20对字线16的选择的准确性的说明示例。在这种情况下，如果选择了正确字线16(即，没有检测到故障)，则输出错误标记(SELOK)可以为逻辑高，并且如果选择了不正确字线(即，检测到故障)，则输出错误标记(SELOK)可以为逻辑低。安全逻辑电路30可以备选地并且实际上附加地监测复用器(mux)线19的选择的准确性，以用于由列解码器对所选择的列进行解码。在这种情况下，如果选择了正确mux线19(即，没有检测到故障)，则输出错误标记(SELOK)可以为逻辑高，并且如果选择了不正确mux线19(即，检测到故障)，则输出错误标记(SELOK)可以为逻辑低。字线和mux线在本文中被统称为存储器10的“选择线”17。