[实用新型]MSM光敏探测器及显示基板有效
申请号: | 202020009123.2 | 申请日: | 2020-01-03 |
公开(公告)号: | CN210743965U | 公开(公告)日: | 2020-06-12 |
发明(设计)人: | 陈江博;李延钊;李达;李凡;刘晓惠 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/108 | 分类号: | H01L31/108;H01L31/0216 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 李迎亚;姜春咸 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | msm 光敏 探测器 显示 | ||
本实用新型提供一种MSM光敏探测器及显示基板,属于显示技术领域。本实用新型的MSM光敏探测器,包括:第一基底,设置在第一基底上的电极层,所述电极层包括多个电极图案;所述MSM光敏探测器还包括:半导体层,所述半导体层与所述第一基底对盒设置,且所位于所述第一基底的靠近所述电极层的一侧;势垒增强层,其设置于所述半导体层靠近所述电极层的一侧,且至少与所述电极图案对应设置。
技术领域
本实用新型属于MSM光敏探测器技术领域,具体涉及一种MSM光敏探测器及显示基板。
背景技术
金属-半导体-金属(Metal-Semiconductor-Metal Photo Detector;MSM)光电探测器由于其响应速度快、灵敏度高、结构简单、制备工艺简单、易于集成以及成本低等特点,获得了广泛的关注和应用。
现有技术中,为了提高MSM光电探测器的肖特基势垒高度,减小暗电流,可以采用在MSM光电探测器的半导体层与金属电极之间加一层薄的势垒增强层来增加势垒高度。
但是现有技术中MSM光电探测器的势垒层厚度均匀程度控制效果不佳,导致MSM光电探测器的性能均匀性并不好。
实用新型内容
本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提供一种整体均匀性较好,暗电流较小的MSM光敏探测器。
解决本实用新型技术问题所采用的技术方案是一种MSM光敏探测器,包括:第一基底,设置在第一基底上的电极层,所述电极层包括多个电极图案;所述MSM光敏探测器还包括:
半导体层,所述半导体层与所述第一基底对盒设置,且所位于所述第一基底的靠近所述电极层的一侧;
势垒增强层,其设置于所述半导体层靠近所述电极层的一侧,且至少与所述电极图案对应设置。
优选的,所述MSM光敏探测器还包括:第二基底,其与所述第一基底对盒设置;
所述半导体层设置在所述第二基底靠近所述第一基底的一侧。
优选的,所述MSM光敏探测器还包括:缓冲层,其设置于所述第一基底上,且位于所述电极层靠近所述第一基底的一侧。
进一步优选的,所述缓冲层包括多个缓冲图案,所述缓冲图案与所述电极图案一一对应。
进一步优选的,所述缓冲层的材料包括有机材料。
优选的,所述半导体层的材料包括硅。
优选的,所述势垒增强层的材料包括二氧化硅;
所述势垒增强层与所述半导体层为一体结构。
优选的,所述势垒增强层通过对所述半导体层的靠近所述第一基底的一面进行热氧化工艺形成。
进一步优选的,所述势垒增强层的材料包括氮化硅。
解决本实用新型技术问题所采用的技术方案是一种显示基板,包括上述任意一种MSM光敏探测器。
附图说明
图1为现有的MSM光敏探测器的结构示意图;
图2为本实用新型的实施例的一种光敏探测器的结构示意图;
图3为本实用新型的实施例的另一种光敏探测器的结构示意图;
其中附图标记为:1、第一基底;2、缓冲层;3、电极层;4、势垒增强层;5、半导体层;6、第二基底。
具体实施方式
为使本领域技术人员更好地理解本实用新型的技术方案,下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细描述。
实施例1:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202020009123.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种计算机服务器机箱
- 下一篇:一种线圈用绕线机
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的