[发明专利]一种碳化硅粉料及制备方法与装置在审
| 申请号: | 202011638540.4 | 申请日: | 2020-12-31 |
| 公开(公告)号: | CN112811426A | 公开(公告)日: | 2021-05-18 |
| 发明(设计)人: | 热尼亚;靳婉琪;王超 | 申请(专利权)人: | 山东天岳先进科技股份有限公司 |
| 主分类号: | C01B32/984 | 分类号: | C01B32/984;F27B14/04;F27B14/14;F27B14/20 |
| 代理公司: | 北京君慧知识产权代理事务所(普通合伙) 11716 | 代理人: | 冯妙娜 |
| 地址: | 250118 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 碳化硅 料及 制备 方法 装置 | ||
本申请公开了一种碳化硅粉料及制备方法与装置,所述碳化硅粉料的粒径为1.5mm~50mm,堆积密度大于1.2g/cm3,所述碳化硅粉料的氮杂质含量小于1.0×1016atoms/cm3,其它杂质总含量小于1ppm。本申请提供的碳化硅粉料,该碳化硅粉料的粒径适宜,堆积密度高,有利于长出厚度更大的晶体并提高晶体生长速率;且氮杂质含量和其它杂质含量低,纯度高,可满足高纯碳化硅晶体的制备需求。该制备方法中,通过对电极通电,可使得碳源原料温度快速升高并与硅液反应,使得到的碳化硅粉料的粒径适宜,堆积密度高;该制备方法步骤简单,操作方便。
技术领域
本申请涉及一种碳化硅粉料及制备方法与装置,属于半导体材料制备的技术领域。
背景技术
作为可大规模工业化生产的第三代半导体材料,市场对碳化硅单晶的要求日益增高。为缩短碳化硅单晶的生长时间、降低缺陷率,人们对于生长碳化硅晶棒用的碳化硅粉料的要求也随之升高。除了碳化硅粉料的杂质含量,对其晶粒结构、粒径、堆积密度及产率等也均有要求。
传统工艺一般采用高温自蔓延反应或CVD法,其所得的碳化硅粉料的粒径小、堆积密度低,在PVT法生长碳化硅单晶的过程中生长效率低且易造成缺陷。目前可采用液相法合成碳化硅粉体,通过加热的方式将硅在坩埚中融化,形成硅液,再将头部贴有籽晶的石墨轴伸入到溶液中进行生长。而现有的制备方法中,所得的碳化硅粉料的堆积密度较低,粉体的质量不理想。
发明内容
为了解决上述问题,本申请提供了一种碳化硅粉料及制备方法与装置,该碳化硅粉料的粒径适宜,堆积密度高,有利于长出厚度更大的晶体;该制备方法,通过对电极通电,可使得碳源原料温度快速升高并与硅液反应,得到的碳化硅粉料的粒径适宜,堆积密度高。
根据本申请的一个方面,提供了一种碳化硅粉料,所述碳化硅粉料的粒径为1.5mm~50mm,堆积密度大于1.2g/cm3。
进一步的,所述碳化硅粉料的粒径为5mm~30mm,堆积密度不小于1.4g/cm3;优选的,所述碳化硅粉料的粒径为10mm~20mm,堆积密度不小于1.5g/cm3;优选的,所述碳化硅粉料的粒径的下限值选自11mm、12mm、13mm、14mm、15mm、16mm、17mm、18mm或19mm,所述碳化硅粉料的粒径的上限值选自11mm、12mm、13mm、14mm、15mm、16mm、17mm、18mm或19mm。优选的,堆积密度不小于1.5g/cm3、1.6g/cm3、1.7g/cm3、1.8g/cm3、1.9g/cm3、2.0g/cm3、2.1g/cm3、2.2g/cm3、2.3g/cm3、2.4g/cm3或2.5g/cm3。
优选的,所述碳化硅粉料的氮杂质含量小于1.0×1016atoms/cm3,其它杂质总含量小于1ppm;优选的,所述碳化硅粉料的氮杂质含量小于1.0×1015atoms/cm3,其它杂质总含量小于0.5ppm。
根据本申请的另一个方面,提供了一种上述碳化硅粉料的制备方法,该方法包括下述步骤:
(1)将硅源原料置于坩埚中,坩埚置于加热炉的炉体内;位于坩埚上方的电极的表面至少部分覆盖碳源原料,碳源原料位于所述炉体内;
(2)对坩埚进行加热,使得硅源原料液化,得到硅液;
(3)控制坩埚和电极发生相对位移,使得碳源原料浸入到硅液中;对电极通电,使得碳源原料表面反应生成碳化硅粉料。
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