[发明专利]磁盘装置以及读处理方法有效
申请号: | 202011623321.9 | 申请日: | 2020-12-30 |
公开(公告)号: | CN113838484B | 公开(公告)日: | 2023-03-31 |
发明(设计)人: | 前东信宏 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社 |
主分类号: | G11B5/49 | 分类号: | G11B5/49;G11B5/596;G11B5/012;G11B5/09;G11B20/18;G11B21/10 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 刘静;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁盘 装置 以及 处理 方法 | ||
1.一种磁盘装置,具备:
盘;
头,其具有对所述盘写入数据的写入头和从所述盘读取数据的第1读取头及第2读取头;以及
控制器,其将所述第1读取头配置在所述盘的第1磁道的半径方向上的第1半径位置来对所述第1磁道进行读取,在对所述第1磁道进行读重试的情况下,将成为读处理时的定位基准的主读取头从所述第1读取头变更为所述第2读取头,将所述第2读取头作为所述主读取头配置在所述第1磁道的半径方向上的与所述第1半径位置不同的第2半径位置来对所述第1磁道进行读取,对与所述主读取头对应的内部设定进行变更来对所述第1磁道进行读取。
2.根据权利要求1所述的磁盘装置,
所述控制器在将所述第2读取头作为所述主读取头配置在了所述第2半径位置的状态下对所述内部设定进行变更,将所述主读取头从所述第2读取头变更为所述第1读取头,将所述第1读取头作为所述主读取头来对所述第1磁道进行读取。
3.根据权利要求2所述的磁盘装置,
所述控制器当在将所述第1读取头作为所述主读取头进行读重试的情况下,将所述第1读取头配置在所述第1磁道的半径方向上的与所述第1半径位置不同的第3半径位置来对所述第1磁道进行读取。
4.根据权利要求3所述的磁盘装置,
所述控制器当在将所述第2读取头作为所述主读取头进行读重试的情况下,将所述第2读取头配置在所述第1磁道的半径方向上的与所述第2半径位置不同的第4半径位置来对所述第1磁道进行读取。
5.根据权利要求1~4中任一项所述的磁盘装置,
所述控制器取得与所述第1磁道的第1扇区对应的各第1区间的第1信号,对各所述第1区间的第1信号和各所述第1区间的第2信号进行比较,从各所述第1区间的所述第1信号和各所述第1区间的所述第2信号中,按各所述第1区间选择最佳的第3信号,所述第1区间是与所读取到的数据对应的信号的预定区间,所述第1信号是各所述第1区间的当前的最佳FIR采样信号,所述第2信号是与新读取到的数据对应的各所述第1区间的FIR采样信号。
6.根据权利要求5所述的磁盘装置,
所述控制器对将各所述第1区间的第3信号进行接合而得到的第4信号进行解码。
7.根据权利要求5所述的磁盘装置,
所述控制器基于各所述第1区间的所述第3信号来算出各第2区间的第1度量,对各所述第2区间的所述第1度量和各所述第2区间的第2度量进行比较,从各所述第2区间的所述第1度量和各所述第2区间的所述第2度量中,按各所述第2区间选择最佳的第3度量,对所述第3度量进行接合,所述第2区间是对应于一个或多个所述第1区间的区间,所述第1度量是各所述第2区间的当前的最佳的度量的平均值,所述第2度量是各所述第2区间的新度量的平均值。
8.根据权利要求7所述的磁盘装置,
所述第1度量、所述第2度量以及所述第3度量分别相当于信噪比。
9.根据权利要求8所述的磁盘装置,
所述控制器选择各所述第2区间的所述第1度量和各所述第2区间的第2度量中的小的一方来作为所述第3度量。
10.根据权利要求9所述的磁盘装置,
所述控制器算出第5信号和所述第3信号的平方误差来作为所述第1度量,
所述控制器对基于所述第1信号进行了硬判决后的第6信号进行重构来生成所述第5信号。
11.根据权利要求8所述的磁盘装置,
所述控制器选择各所述第2区间的所述第1度量和各所述第2区间的第2度量中的大的一方来作为所述第3度量。
12.根据权利要求11所述的磁盘装置,
所述控制器算出对数似然比的绝对值来作为所述第1度量。
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