[发明专利]装备测试性策略优化方法和装置在审
| 申请号: | 202011563014.6 | 申请日: | 2020-12-25 |
| 公开(公告)号: | CN112733433A | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
| 发明(设计)人: | 刘丽亚;厚泽;闫俊锋;潘国庆;徐睿;倘亚朋 | 申请(专利权)人: | 北京航天测控技术有限公司 |
| 主分类号: | G06F30/27 | 分类号: | G06F30/27;G06N3/12;G01S7/40;G06F111/04 |
| 代理公司: | 北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662 | 代理人: | 蔡良伟;沈园园 |
| 地址: | 100041 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 装备 测试 策略 优化 方法 装置 | ||
1.一种装备测试性策略优化方法,其特征在于,包括:
获取测试种群,所述测试种群包括多个用于对装备进行测试的测试集;
基于所述测试种群确定所述装备的测试代价、基本可靠性代价和测试性性能效益;
将所述测试代价和基本可靠性代价作为第一约束参数,将所述测试性性能效益作为第一测试指标构建第一测试性优化模型;和/或,
将所述测试代价、所述基本可靠性代价和所述测试性性能效益作为第二约束参数,将装备综合效益作为第二测试指标构建第二测试性优化模型;
基于所述第一测试性优化模型和所述第二测试性优化模型采用适应度函数进行测试性策略优化计算。
2.如权利要求1所述的装备测试性策略优化方法,其特征在于,
所述第一测试性优化模型包括:
其中,φ(x)为以基本可靠性和测试性指标为约束条件的测试性能效益,D1为测试代价阈值,D2为基本可靠性代价阈值,FDR为故障检测率,FIR为故障隔离率,m为故障检测率最小值,n为故障隔离率最小值,Ti为测试集。
3.如权利要求1所述的装备测试性策略优化方法,其特征在于,
第二测试性优化模型包括:
其中,Ls为以所述测试代价、所述基本可靠性代价和所述测试性性能效益为约束条件的装备综合效益,D1为测试代价阈值,D2为基本可靠性代价阈值,FDR为故障检测率,FIR为故障隔离率,m为故障检测率最小值,n为故障隔离率最小值,Ti为测试集。
4.如权利要求1所述的装备测试性策略优化方法,其特征在于,
所述测试代价包括:尺寸增加代价、重量增加代价、功耗增加代价、存储代价、计算资源代价中的至少之一;
所述基本可靠性代价包括:维修代价为和/或任务保障代价;
所述测试性性能效益包括:故障检测率提高带来的效益和/或故障隔离测率提高带来的效益。
5.权利要求1所述的装备测试性策略优化方法,其特征在于,基于所述第一测试性优化模型和所述第二测试性优化模型采用适应度函数进行测试性策略优化计算包括:
基于所述测试种群中的测试集对应的故障检测率利用启发式规则对所述测试集进行更新;
基于所述适应度函数对更新后的测试集进行修正。
6.如权利要求5所述的装备测试性策略优化方法,其特征在于,所述基于所述测试种群中的测试集对应的故障检测率利用启发式规则对所述测试集进行更新包括:
获取测试集和所述测试集检测到的故障集;
计算所述测试集的故障检测率;
判断所述故障检测率是否小于预设检测率;
若是,计算所述测试集之外的每个测试的故障检测能力值与测试代价的比值,所述故障检测能力值为未被检测到的故障集中的所有故障被所述测试集之外的测试检测到的概率之和;
将所述比值最大的测试加入所述测试集,并将所述测试检测到的故障加入所述故障集;返回计算所述测试集的故障检测率和判断所述故障检测率是否小于预设检测率步骤;
若否,确定完成当前所述测试集的更新。
7.如权利要求5所述的装备测试性策略优化方法,其特征在于,所述基于所述适应度函数对更新后的测试集进行修正包括:
基于所述适应度函数计算测试集的适应度值,所述适应度函数基于所述罚函数构建;
基于所述适应度值对所述测试集进行评价;
基于评价结果选择所述测试集。
8.如权利要求7所述的装备测试性策略优化方法,其特征在于,所述适应度函数包括:
其中,ti为测试,ci为ti的测试代价,Ti为测试集,T为全部测试集;γ*F1为测试集Ti的故障隔离率指标,γF1为预设故障隔离率指标,β为常数。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航天测控技术有限公司,未经北京航天测控技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011563014.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种基于双季稻的稻虾轮作方法
- 下一篇:套合精度的测量方法及测量装置





