[发明专利]装备测试性策略优化方法和装置

说明书

本申请提供了一种装备测试性策略优化方法和装置，其中，该方法包括：获取测试种群，测试种群包括多个用于对装备进行测试的测试集；基于测试种群确定装备的测试代价、基本可靠性代价和测试性性能效益；将测试代价和基本可靠性代价作为第一约束参数，将测试性性能效益作为第一测试指标构建第一测试性优化模型；和/或，将测试代价、基本可靠性代价和测试性性能效益作为第二约束参数，将装备综合效益作为第二测试指标构建第二测试性优化模型；基于第一测试性优化模型和第二测试性优化模型采用适应度函数进行测试性策略优化计算。通过本申请，解决了相关技术中存在的现有装备测试性优化过程中优化目标单一，容易陷入局部收敛的问题。

技术领域

本申请涉及测试性优化技术领域，尤其涉及一种装备测试性策略 优化方法和装置。

背景技术

对于复杂电子系统，例如雷达装备，其测试与诊断也需选择合适 的测试节点及测试参数。由于系统结构复杂，故障与节点及测试参数 之间的关系很难通过数学推导或仿真模拟获得，因此，在雷达装备的 测试方案优化设计时需考虑对系统进行测试性建模，得到系统的测试 性模型，研究基于相关性模型的优化策略。此外，测试性优化设计是 一个综合考虑功能、性能和可靠性约束的过程，需要从整体角度考虑 测试性设计的权衡和优化，雷达装备可以采用基于组合代价的优化策 略。

已有的测试性优化策略，大多都是以追求最优的测试效果为目标， 即检测率最高或测试代价最小，在追求更优测试效果的过程中，必然 会对测试仪器或测试方法有着更为严格的要求，其所带来的平均测试 代价会出现过高的情况。

因此，相关技术中存在现有装备测试性优化过程中优化目标单一， 容易陷入局部收敛的技术问题。

发明内容

本申请提供了一种装备测试性策略优化方法和装置、存储介质和 电子设备，以至少解决相关技术中存在现有装备测试性优化过程中优 化目标单一，容易陷入局部收敛的问题。

根据本申请实施例的一个方面，提供了一种装备测试性策略优化 方法，包括：获取测试种群，所述测试种群包括多个用于对装备进行 测试的测试集；基于所述测试种群确定所述装备的测试代价、基本可 靠性代价和测试性性能效益；将所述测试代价和基本可靠性代价作为 第一约束参数，将所述测试性性能效益作为第一测试指标构建第一测 试性优化模型；和/或，将所述测试代价、所述基本可靠性代价和所述 测试性性能效益作为第二约束参数，将装备综合效益作为第二测试指 标构建第二测试性优化模型；基于所述第一测试性优化模型和所述第 二测试性优化模型采用适应度函数进行测试性策略优化计算。

可选的，所述第一测试性优化模型包括：

其中，φ(x)为以基本可靠性和测试性指标为约束条件的测试性能 效益，D1为测试代价阈值，D2为基本可靠性代价阈值，FDR为故障检 测率，FIR为故障隔离率，m为故障检测率最小值，n为故障隔离率最 小值，T_i为测试集。

可选的，第二测试性优化模型包括：

其中，L_s为以所述测试代价、所述基本可靠性代价和所述测试性 性能效益为约束条件的装备综合效益，D1为测试代价阈值，D2为基本 可靠性代价阈值，FDR为故障检测率，FIR为故障隔离率，m为故障检 测率最小值，n为故障隔离率最小值，T_i为测试集。

可选的，所述测试代价包括：尺寸增加代价、重量增加代价、功 耗增加代价、存储代价、计算资源代价中的至少之一；所述基本可靠 性代价包括：维修代价为和/或任务保障代价；所述测试性性能效益包 括：故障检测率提高带来的效益和/或故障隔离测率提高带来的效益。