[发明专利]光栅尺、光栅尺读数方法、装置和计算机存储介质有效
| 申请号: | 202011544463.6 | 申请日: | 2020-12-23 |
| 公开(公告)号: | CN112762836B | 公开(公告)日: | 2023-02-28 |
| 发明(设计)人: | 康德会 | 申请(专利权)人: | 长春汇通光电技术有限公司 |
| 主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
| 代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 郑雪梅 |
| 地址: | 130000 吉林省长春*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光栅尺 读数 方法 装置 计算机 存储 介质 | ||
本发明公开了一种光栅尺、光栅尺读数方法、装置和计算机存储介质,本申请中的光栅尺的光栅读头内包含至少两个光电池,因此使得光栅读头能够在光电池感知区域被较大面积污染时仍能够准确读数,提升了光栅尺的抗污染能力。本申请中的光栅尺读数方法应用于这种光栅读头内包含第一光电池和第二光电池的光栅尺,通过分别读取所述第一光电池的第一位置值和所述第二光电池的第二位置值,根据所述第一位置值和所述第二位置值确定测量值,提升了光栅尺的抗污染能力。
技术领域
本发明涉及光学长度测量领域,尤其涉及光栅尺、光栅尺读数方法、装置和计算机存储介质。
背景技术
在工业界,光栅尺广泛应用在精密运动系统中,光栅尺测量输出信号为数字脉冲,具有测量范围大,监测精度高,响应速度快的特征。光栅尺的栅尺和光栅读头相结合,光栅读头每扫描一个栅距,产生一个正弦波信号周期,此信号通过电子电路进行细分处理,实现准确测量。
由于光栅尺常常工作于生产环境中,掉落的碎屑、积累的灰尘都可能造成光栅尺的污染,使得光栅读头无法正常读数,因此,如何提升光栅尺的抗污染能力成了亟待解决的问题。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种光栅尺、光栅尺读数方法、装置和计算机存储介质,旨在解决现有的光栅尺抗污染能力差的问题。
为实现上述目的,本发明提供一种光栅尺,所述光栅尺包括栅尺和光栅读头,所述光栅读头内包含至少两个光电池,各光电池沿光栅读头在栅尺上的移动方向间隔排列。
可选地,所述光栅尺为增量式光栅尺或绝对式光栅尺。
此外,本申请还提供一种光栅尺读数方法,所述光栅尺读数方法应用于光栅尺,所述光栅尺的光栅读头内包括第一光电池和第二光电池,所述光栅尺读数方法包括以下步骤:
分别读取所述第一光电池的第一位置值和所述第二光电池的第二位置值;
根据所述第一位置值和所述第二位置值确定测量值。
在一实施例中,所述根据所述第一位置值和所述第二位置值确定测量值的步骤,包括:
判断所述第一位置值和所述第二位置值是否相等;
若所述第一位置值等于所述第二位置值,将所述第一位置值或所述第二位置值作为测量值;或,
若所述第一位置值不等于第二位置值,将所述第一位置值和所述第二位置值中较大的一者作为测量值。
在一实施例中,所述若所述第一位置值不等于所述第二位置值,将所述第一位置值和所述第二位置值中较大的一者作为测量值的步骤之后,包括:
将所述第一位置值和所述第二位置值中较小的一者替换为测量值。
在一实施例中,所述根据所述第一位置值和所述第二位置值确定测量值的步骤,包括:
根据所述第一位置值和所述第二位置值分别计算所述第一光电池的第一位移增量和所述第二光电池的第二位移增量;
判断所述第一位移增量和所述第二位移增量是否相等;
若所述第一位移增量和所述第二位移增量相等,则将所述第一位置值或所述第二位置值作为测量值。
在一实施例中,所述判断所述第一位移增量和所述第二位移增量是否相等的步骤之后,包括:
若所述第一位移增量和所述第二位移增量不相等,判断所述第一位置值和/或所述第二位置值和/或所述第一位移增量和/或所述第二位移增量是否满足预设条件;
若满足,根据第一预设规则将第一位置值或第二位置值确定为测量值。
在一实施例中,所述若满足,根据第一预设规则将第一位置值或第二位置值确定为测量值的步骤,包括:
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