[发明专利]光栅尺、光栅尺读数方法、装置和计算机存储介质有效

专利信息
申请号: 202011544463.6 申请日: 2020-12-23
公开(公告)号: CN112762836B 公开(公告)日: 2023-02-28
发明(设计)人: 康德会 申请(专利权)人: 长春汇通光电技术有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 郑雪梅
地址: 130000 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 光栅尺 读数 方法 装置 计算机 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种光栅尺,其特征在于,所述光栅尺包括栅尺和光栅读头,所述光栅读头内包含至少两个光电池,各光电池沿光栅读头在栅尺上的移动方向间隔排列;其中,

所述至少两个光电池用于至少输出第一位置值和第二位置值,所述第一位置值和所述第二位置值用于对比确定所述光栅尺是否存在污染,在确定存在污染的情况下,基于所述第一位置值和所述第二位置值确定所述至少两个光电池中未被污染的光电池,并根据所述未被污染的光电池确定测量值;

所述光栅尺为增量式光栅尺或者绝对式光栅尺

所述至少两个光电池包括第一光电池和第二光电池,在所述光栅尺为所述绝对式光栅尺时,所述基于所述第一位置值和所述第二位置值确定所述至少两个光电池中未被污染的光电池,并根据所述未被污染的光电池确定测量值,包括:

根据所述第一位置值和所述第二位置值分别计算所述第一光电池的第一位移增量和所述第二光电池的第二位移增量;

判断所述第一位移增量和所述第二位移增量是否相等;

若所述第一位移增量和所述第二位移增量不相等,判断所述第一位置值和/或所述第二位置值和/或所述第一位移增量和/或所述第二位移增量是否满足预设条件;

若满足,根据第一预设规则将第一位置值或第二位置值确定为测量值,所述第一预设规则包含所述预设条件和所述预设条件对应的测量值生成方式的规则。

2.一种光栅尺读数方法,其特征在于,所述光栅尺读数方法应用于如权利要求1所述的光栅尺,所述光栅尺的光栅读头内包括第一光电池和第二光电池,所述光栅尺读数方法包括以下步骤:

分别读取所述第一光电池的第一位置值和所述第二光电池的第二位置值;

利用所述第一位置值和所述第二位置值对比确定所述光栅尺是否存在污染;

在确定存在污染的情况下,基于所述第一位置值和所述第二位置值确定测量值;其中,所述测量值为根据所述第一光电池、第二光电池中未被污染的光电池对应的位置值确定的;

其中,所述光栅尺为增量式光栅尺或者绝对式光栅尺;

在所述光栅尺为所述绝对式光栅尺时,所述在确定存在污染的情况下,基于所述第一位置值和所述第二位置值确定测量值的步骤,包括:

根据所述第一位置值和所述第二位置值分别计算所述第一光电池的第一位移增量和所述第二光电池的第二位移增量;

判断所述第一位移增量和所述第二位移增量是否相等;

若所述第一位移增量和所述第二位移增量不相等,判断所述第一位置值和/或所述第二位置值和/或所述第一位移增量和/或所述第二位移增量是否满足预设条件;

若满足,根据第一预设规则将第一位置值或第二位置值确定为测量值,所述第一预设规则包含所述预设条件和所述预设条件对应的测量值生成方式的规则。

3.如权利要求2所述的光栅尺读数方法,其特征在于,在所述光栅尺为所述增量式光栅尺时,所述在确定存在污染的情况下,基于所述第一位置值和所述第二位置值确定测量值的步骤,包括:

判断所述第一位置值和所述第二位置值是否相等;

若所述第一位置值等于所述第二位置值,将所述第一位置值或所述第二位置值作为测量值;或,

若所述第一位置值不等于第二位置值,将所述第一位置值和所述第二位置值中较大的一者作为测量值。

4.如权利要求3所述的光栅尺读数方法,其特征在于,所述若所述第一位置值不等于所述第二位置值,将所述第一位置值和所述第二位置值中较大的一者作为测量值的步骤之后,包括:

将所述第一位置值和所述第二位置值中较小的一者替换为测量值。

5.如权利要求2所述的光栅尺读数方法,其特征在于,所述判断所述第一位移增量和所述第二位移增量是否相等的步骤之后,还包括:

若所述第一位移增量和所述第二位移增量相等,则将所述第一位置值或所述第二位置值作为测量值。

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