[发明专利]一种电场辐射敏感度改进测试方法和系统

说明书

本发明公开本发明提供一种电场辐射敏感度改进测试方法和系统，解决现有方法和系统测试效率低和测试成本高的问题。所述方法，包含：根据受试设备的尺寸和测试距离计算E面测试范围和H面测试范围，根据发射天线波束宽度和测试距离计算E面步进和H面步进；选定测试初始位置，按照先沿E面再沿H面或者先沿H面再沿E面调节发射天线的位置，使得发射天线移动范围覆盖所述E面测试范围和H面测试范围，且每个测试位置都与所述受试设备的距离保持为所述测试距离；在所述每个测试位置，通过所述发射天线向所述受试设备辐射信号，测量受试设备处的电场强度。所述系统使用所述方法。本发明实现了大尺寸EUT单天线等效测试。

技术领域

本发明涉及电磁场测试领域，尤其涉及一种电场辐射敏感度改进测试方法和系统。

背景技术

GJB151B中的RS103项目名称是10kHz～40GHz电场辐射敏感度，试验目的是为了检验受试设备（EUT）通过外壳和连接电缆感应外界辐射电场的承受能力，以确保在各种电磁场中工作的设备不降低性能。根据GJB151B的要求，当发射频率大于200MHz时，天线的3dB波束覆盖范围已经非常小了，对于大尺寸EUT，需要多位置重复测量。现有的GJB151B中RS103电场辐射敏感度的测试方法中，对于大尺寸的EUT，单个发射天线的3dB波束宽度宽度无法覆盖标准要求覆盖的区域时，需要多天线法进行测试，测试过程需同时使用多个天线，系统复杂，测试效率低。

发明内容

本发明提供一种电场辐射敏感度测试方法和系统，解决现有方法和系统测试效率低和测试成本高的问题。

为解决上述问题，本发明是这样实现的：

本发明实施例提出一种电场辐射敏感度改进测试方法，用于GJB151B中RS103项目，包含以下步骤：根据受试设备的尺寸和测试距离计算E面测试范围和H面测试范围，根据发射天线波束宽度和测试距离计算E面步进和H面步进，所述测试距离为预设的发射天线与受试设备之间的距离，所述E面步进为沿发射天线E面的最小移动距离，所述H面步进为沿发射天线H面的最小移动距离；选定测试初始位置，按照先沿E面再沿H面或者先沿H面再沿E面调节发射天线的位置，使得发射天线移动范围覆盖所述E面测试范围和H面测试范围，且每个测试位置都与所述受试设备的距离保持为所述测试距离，沿E面调节发射天线位置的调节步进为所述E面步进，沿H面调节发射天线位置的调节步进为所述H面步进；在所述每个测试位置，通过所述发射天线向所述受试设备辐射信号，测量受试设备处的电场强度。

优选地，所述E面测试范围为所述受试设备的全尺寸辐照，所述H面测试范围为所述受试设备的全尺寸辐照。

优选地，所述E面步进大于等于，所述H面步进大于等于，其中，L为所述测试距离，为发射天线的E面3dB波束宽度，为发射天线的H面3dB波束宽度。

优选地，若测试频率大于等于10k且小于200MHz，所述受试设备尺寸大于3米；若测试频率大于等于200MHz且小于1GHz时，所述受试设备壳体的整个宽度及其端接电缆的首个35cm线段大于发射天线的3dB波束宽度；当测试频率大于等于1GHz时，所述受试设备壳体的整个宽度及其端接电缆的首个7cm线段大于发射天线的3dB波束宽度。

优选地，所述测试距离为1m。

优选地，所述发射天线的频率大于等于200MHz。