[发明专利]一种电场辐射敏感度改进测试方法和系统有效
申请号: | 202011537898.8 | 申请日: | 2020-12-23 |
公开(公告)号: | CN112798874B | 公开(公告)日: | 2022-07-08 |
发明(设计)人: | 穆晨晨;袁岩兴;康宁;韩玉峰;齐万泉 | 申请(专利权)人: | 北京无线电计量测试研究所 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 南霆 |
地址: | 100854 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电场 辐射 敏感度 改进 测试 方法 系统 | ||
1.一种电场辐射敏感度改进测试方法,用于GJB151B中RS103项目,其特征在于,包含以下步骤:
根据受试设备的尺寸和测试距离计算E面测试范围和H面测试范围,根据发射天线波束宽度和测试距离计算E面步进和H面步进,所述测试距离为预设的发射天线与受试设备之间的距离,所述E面步进为沿发射天线E面的最小移动距离,所述H面步进为沿发射天线H面的最小移动距离;
选定测试初始位置,按照先沿E面再沿H面或者先沿H面再沿E面调节发射天线的位置,使得发射天线移动范围覆盖所述E面测试范围和H面测试范围,且每个测试位置都与所述受试设备的距离保持为所述测试距离,沿E面调节发射天线位置的调节步进为所述E面步进,沿H面调节发射天线位置的调节步进为所述H面步进;
在所述每个测试位置,通过所述发射天线向所述受试设备辐射信号,测量受试设备处的电场强度。
2.如权利要求1所述的电场辐射敏感度改进测试方法,其特征在于,所述E面测试范围为所述受试设备的全尺寸辐照,所述H面测试范围为所述受试设备的全尺寸辐照。
3.如权利要求1所述的电场辐射敏感度改进测试方法,其特征在于,所述E面步进大于等于,所述H面步进大于等于,其中,
4.如权利要求1所述的电场辐射敏感度改进测试方法,其特征在于,所述受试设备的尺寸满足:若测试频率大于等于10k且小于200MHz,所述受试设备尺寸大于3米;若测试频率大于等于200MHz且小于1GHz时,所述受试设备壳体的整个宽度及其端接电缆的首个35cm线段大于发射天线的3dB波束宽度;当测试频率大于等于1GHz时,所述受试设备壳体的整个宽度及其端接电缆的首个7cm线段大于发射天线的3dB波束宽度。
5.如权利要求1所述的电场辐射敏感度改进测试方法,其特征在于,所述测试距离为1m。
6.如权利要求1所述的电场辐射敏感度改进测试方法,其特征在于,所述发射天线的频率大于等于200MHz。
7.一种电场辐射敏感度改进测试系统,使用权利要求1~6任一项所述方法,其特征在于,包含:受试设备,导轨,天线架,发射天线,电场传感器测量设备;
所述发射天线,安装在所述天线架上,可沿天线架方向移动,所述发射天线用于向所述受试设备辐射信号;
所述天线架安装在所述导轨上,可沿导轨的轨道移动,所述天线架与所述导轨垂直放置,所述导轨与所述受试设备间的距离为测试距离;
若所述导轨沿所述发射天线E面放置,则导轨尺寸大于等于E面测试范围,天线架尺寸大于等于H面测试范围,若所述导轨沿所述发射天线H面放置,则导轨尺寸大于等于H面测试范围,天线架尺寸大于等于E面测试范围;
所述受试设备,用于接收所述发射天线辐射的信号;
所述电场传感器测量设备,用于计算所述受试设备输出的电场强度。
8.如权利要求7所述的电场辐射敏感度改进测试系统,其特征在于,还包含:信号源,射频放大器,激励和监测设备;
所述信号源,用于输出设定频率的测试信号;
所述射频放大器,用于接收所述测试信号,放大后发送给所述发射天线;
所述激励和监测设备,用于接收所述受试设备输出的电场强度,进行信号强度监测。
9.如权利要求7所述的电场辐射敏感度改进测试系统,其特征在于,所述导轨为圆周或直线型导轨。
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