[发明专利]测距装置、电子设备及测量方法

说明书

本申请公开了一种测距装置、电子设备及测量方法，属于光电测量技术领域。测距装置包括：第一壳体，第一壳体上设置有第一开口；设置于第一壳体内的光发射单元、准直透镜、第一反射单元、第二反射单元、聚光透镜、光接收单元及处理单元；其中，第一反射单元用于反射得到第一光线和第二光线，第一光线射向聚光透镜，第二光线射向第二反射单元；第二反射单元用于反射第二光线，反射后的第二光线经第一开口射向被测物体；光接收单元用于接收经聚光透镜聚光后的第一光线，以及由被测物体反射后、再依次由第二反射单元和第一反射单元反射并经聚光透镜聚光后的第二光线。本申请可提高被测物体与测距装置之间的距离的测量准确率。

技术领域

本申请属于光电测量技术领域，具体涉及一种测距装置、电子设备及测量方法。

背景技术

目前，激光测距装置一般包括激光发射单元、基准反射面、激光接收单元和处理单元。光发射单元产生的光经准直透镜射向基准反射面，第一部分激光经基准反射面反射回激光接收单元，第二部分激光穿过基准反射面射向被测物体，被测物体反射回激光接收单元，处理单元获取经基准反射面反射回的第一部分激光的时间t1，以及经被测物体反射回的第二部分激光的时间t2，并基于t1和t2计算被测物体与测距装置之间的距离。然而，采用上述激光测距装置测量被测物体与测距装置之间的距离时，若被测物体离测距装置较近，t1和t2非常接近，容易造成被测物体与测距装置之间的距离的测量准确率较低。

发明内容

本申请实施例的目的是提供一种测距装置、电子设备及测量方法，能够解决被测物体与测距装置之间的距离的测量准确率较低的问题。

为了解决上述技术问题，本申请是这样实现的：

第一方面，本申请实施例提供了一种测距装置，所述测距装置包括：第一壳体，所述第一壳体上设置有第一开口；设置于所述第一壳体内的光发射单元、准直透镜、第一反射单元、第二反射单元、聚光透镜、光接收单元及处理单元；

其中，所述光发射单元用于产生光线，所述光发射单元产生的光线经所述准直透镜射准直后射向所述第一反射单元；

所述第一反射单元用于反射得到第一光线和第二光线，所述第一光线射向所述聚光透镜，所述第二光线射向所述第二反射单元；

所述第二反射单元用于反射所述第二光线，反射后的所述第二光线经所述第一开口射向被测物体；

所述光接收单元用于接收经所述聚光透镜聚光后的所述第一光线，以及由所述被测物体反射后、再依次由所述第二反射单元和所述第一反射单元反射并经所述聚光透镜聚光后的所述第二光线，并记录接收所述第一光线的第一时刻t1，以及接收所述第二光线的第二时刻t2；

所述处理单元，与所述光接收单元连接，用于根据所述t1与t2计算所述被测物体与所述测距装置的相对距离。

第二方面，本申请实施例提供了一种电子设备，所述电子设备包括：第二壳体，所述第二壳体设置有第二开口；设置于所述第二壳体内的如第一方面所述的测距装置；其中，所述第一开口与所述第二开口相对设置。

第三方面，本申请实施例提供了一种测距方法，该方法由目标设备执行，所述目标设备为如第一方面所述的测距装置执行，或，如第二方面所述的电子设备执行，该方法包括：

控制所述光发射单元发射光线，所述光线由所述第一反射单元反射得到第一光线和第二光线；

获取所述光接收单元接收到所述第一光线的第一时刻t1，以及接收到所述第二光线的第二时刻t2；

根据所述t1与t2计算所述被测物体与所述测距装置的相对距离。