[发明专利]测距装置、电子设备及测量方法

权利要求书

1.一种测距装置，其特征在于，包括：第一壳体，所述第一壳体上设置有第一开口；设置于所述第一壳体内的光发射单元、准直透镜、第一反射单元、第二反射单元、聚光透镜、光接收单元及处理单元；

其中，所述光发射单元用于产生光线，所述光发射单元产生的光线经所述准直透镜射准直后射向所述第一反射单元；

所述第一反射单元用于反射得到第一光线和第二光线，所述第一光线射向所述聚光透镜，所述第二光线射向所述第二反射单元；

所述第二反射单元用于反射所述第二光线，反射后的所述第二光线经所述第一开口射向被测物体；

所述光接收单元用于接收经所述聚光透镜聚光后的所述第一光线，以及由所述被测物体反射后、再依次由所述第二反射单元和所述第一反射单元反射并经所述聚光透镜聚光后的所述第二光线，并记录接收所述第一光线的第一时刻t1，以及接收所述第二光线的第二时刻t2；

所述处理单元，与所述光接收单元连接，用于根据所述t1与t2计算所述被测物体与所述测距装置的相对距离。

2.根据权利要求1所述的测距装置，其特征在于，所述根据所述t1与t2计算所述被测物体与所述测距装置的相对距离L1，具体为：根据L1＝(t2-t1)×光速/2－l1－l2计算所述被测物体与所述测距装置的相对距离L1，其中，l1为所述第一反射单元与所述第二反射单元间的距离值，l2为所述第二反射单元与所述第一开口间的距离值。

3.根据权利要求1所述的测距装置，其特征在于，所述第一反射单元包括第一反射面、第二反射面和第三反射面；其中，所述第一反射面用于反射得到第一光线，所述第二反射面用于反射得到第二光线，所述第三反射面用于将所述第二反射单元反射回的第二光线反射至所述光接收单元。

4.根据权利要求1所述的测距装置，其特征在于，所述第一反射单元包括第四反射面和第五反射面；其中，所述第四反射面用于反射得到第一光线，所述第一反射单元可转动并在第一工作状态、第二工作状态之间进行切换，在所述第一工作状态时，所述第五反射面用于反射得到第二光线，在所述第二工作状态时，所述第五反射面用于将所述第二反射单元反射回的第二光线反射至所述光接收单元。

5.根据权利要求1所述的测距装置，其特征在于，所述测距装置还包括第一输出单元，所述第一输出单元与所述处理单元连接，用于输出L1。

6.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：第二壳体，所述第二壳体设置有第二开口；设置于所述第二壳体内的如权利要求1至4中任一项所述的测距装置；其中，所述第一开口与所述第二开口相对设置。

7.根据权利要求6所述的电子设备，其特征在于，所述第二壳体与所述测距装置贴合设置。

8.一种测距方法，其特征在于，由目标设备执行，所述目标设备为如权利要求1至4中任一项所述的测距装置执行，或，由如权利要求5至7中任一项所述的电子设备执行，所述方法包括：

控制所述光发射单元发射光线，所述光线由所述第一反射单元反射得到第一光线和第二光线；

获取所述光接收单元接收到所述第一光线的第一时刻t1，以及接收到所述第二光线的第二时刻t2；

根据所述t1与t2计算所述被测物体与所述测距装置的相对距离。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述根据所述t1与t2计算所述被测物体与所述测距装置的相对距离，包括：

根据L1＝(t2-t1)×光速/2－l1－l2计算所述被测物体与所述测距装置的相对距离L1，其中，l1为所述第一反射单元与所述第二反射单元间的距离值，l2为所述第二反射单元与所述第一开口间的距离值。

10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，在所述目标设备为所述电子设备，且所述第二壳体与所述测距装置间隔设置的情况下，所述计算所述被测物体与所述测距装置间的距离值L1之后，所述方法还包括：

计算所述被测物体与所述电子设备间的距离值L2，L2＝L1-l4，l4为所述第一开口与所述第二开口间的距离。