[发明专利]双层ITO膜的LED芯片结构及其制作方法在审

专利信息
申请号: 202011508870.1 申请日: 2020-12-18
公开(公告)号: CN112510132A 公开(公告)日: 2021-03-16
发明(设计)人: 陈晓冰 申请(专利权)人: 普瑞(无锡)研发有限公司
主分类号: H01L33/42 分类号: H01L33/42;H01L33/14;H01L33/00
代理公司: 江苏漫修律师事务所 32291 代理人: 熊启奎;周晓东
地址: 214192 江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 双层 ito led 芯片 结构 及其 制作方法
【说明书】:

发明公开了一种双层ITO膜的LED芯片结构及其制作方法,其中,双层ITO膜的LED芯片结构包括:在芯片衬底上生长LED芯片外延结构,通过ICP刻蚀技术将暴漏区域的N‑GaN层刻蚀出来,形成N‑GaN台阶,在芯片结构上镀SiO2电流扩散层,第一层ITO膜包覆在SiO2电流扩散层的整面上,在第一层ITO膜表面上镀第二层ITO膜,第二层ITO膜是在高温快速退火同时通入氧气而形成。本发明在LED芯片外延结构上用两次sputter溅射技术镀膜,采用两种不同的工艺制成双层ITO导电层结构,第一层ITO膜实现降低阻抗、欧姆接触佳等良好导电性的效果,第二层ITO膜在退火工艺中通入氧气实现高光透过性等效果。

技术领域

本发明涉及半导体技术领域,尤其是一种双层ITO膜的LED芯片结构及其制作方法。

背景技术

发光二极管(LED)是一种将电能转化为光能的固体发光器件,其中GaN基的LED芯片得到了长足的发展和应用。LED芯片的发光单元具有N-GaN层、多量子阱层和P-GaN层,通常会通过刻蚀工艺将N-GaN层的一部分暴露于外部,在暴露于外部的P-GaN层和N-GaN层部分形成施加电流的电极结构。在P-GaN层上部形成发光区域,通常使用具有隧道结构的ITO(氧化铟锡)作为透明电极层形成欧姆接触。目前,现有技术中采用sputter溅射工艺制作的单一ITO导电层存在阻抗高、欧姆接触性能差、光透过性有待提高等缺点。

发明内容

本申请人针对上述现有技术中单一ITO导电层存在阻抗高、欧姆接触性能差、光透过性有待提高等缺点,提供了一种结构合理的双层ITO膜的LED芯片结构及其制作方法,采用两种不同的工艺制成双层ITO导电层结构,实现降低阻抗、欧姆接触佳等良好导电性以及高光透过性等效果。

本发明所采用的技术方案如下:

一种双层ITO膜的LED芯片结构,在芯片衬底上生长LED芯片外延结构,通过ICP刻蚀技术将暴漏区域的N-GaN层刻蚀出来,形成N-GaN台阶,在芯片结构上镀SiO2电流扩散层,第一层ITO膜包覆在SiO2电流扩散层的整面上,在第一层ITO膜表面上镀第二层ITO膜,第二层ITO膜是在高温快速退火同时通入氧气而形成。

作为上述技术方案的进一步改进:

利用sputter溅射技术在芯片结构表面上镀第一层ITO膜。

利用sputter溅射技术在第一层ITO膜表面上镀第二层ITO膜。

在第二层ITO膜和暴露的N-GaN台阶部分分别制作N、P焊盘电极。

本发明还采用的技术方案如下:

一种双层ITO膜的LED芯片结构制作方法,包括以下步骤:

步骤S1,提供芯片衬底,在芯片衬底上生长LED芯片外延结构;

步骤S2,通过ICP刻蚀技术将暴漏区域的N-GaN层刻蚀出来,形成N-GaN台阶;

步骤S3,利用物理气相沉积和黄光蚀刻技术制作SiO2电流扩散层;

步骤S4,在芯片结构表面上镀第一层ITO膜,利用退火炉的高温快速退火,使ITO膜和P-GaN层形成良好的欧姆接触,第一层ITO膜包覆在SiO2电流扩散层的整面上;

步骤S5,在第一层ITO膜表面上镀第二层ITO膜,利用退火炉的高温快速退火同时通入氧气的工艺制成。

作为上述技术方案的进一步改进:

步骤S2进一步包括,利用正性光刻掩膜技术制作掩膜图形,通过ICP刻蚀技术将暴漏区域的N-GaN层刻蚀出来,形成N-GaN台阶。

步骤S4进一步包括,利用sputter溅射技术在芯片结构表面上镀第一层ITO膜。

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