[发明专利]一种高频同轴信号探针测试单元

权利要求书

1.一种高频同轴信号探针测试单元，其特征在于：包括上基座（1）、下基座（2）和信号探针（5），所述上基座（1）上开设有上下贯通的上腔体（3），所述下基座（2）上开设有与上腔体（3）对应的上下贯通的下腔体（4），所述上基座（1）和下基座（2）组成测试基座，所述上腔体（3）和下腔体（4）组成信号腔体，其内穿设有信号探针（5），所述上腔体（3）内安装有上轴套（6），所述下腔体（4）内安装有下轴套（7）；

所述信号探针（5）包含套筒（51），所述套筒（51）内设有弹簧（52），所述套筒（51）的上端连接有上柱塞（53），所述套筒（51）的下方设有下柱塞（54），所述弹簧（52）的两端与上柱塞（53）的下端、下柱塞（54）的上端分别抵接，所述套筒（51）的中部设有单向棘刺结构（56），所述单向棘刺结构（56）的中间卡设有绝缘环（55），所述绝缘环（55）与上腔体（3）过盈配合，所述单向棘刺结构（56）的外径尺寸小于上腔体（3）的内径尺寸，所述单向棘刺结构（56）包含上棘刺（561）和下棘刺（562），所述上棘刺（561）和下棘刺（562）为弧形凸起。

2.根据权利要求1所述的一种高频同轴信号探针测试单元，其特征在于：所述绝缘环（55）为非金属材质制成的圆形或花瓣式结构，所述花瓣式结构为4-6瓣。

3.根据权利要求1所述的一种高频同轴信号探针测试单元，其特征在于：所述上轴套（6）和下轴套（7）均采用绝缘材质注塑成型，所述上轴套（6）与上腔体（3）过盈配合，所述下轴套（7）与下腔体（4）过盈配合。

4.根据权利要求1所述的一种高频同轴信号探针测试单元，其特征在于：所述上腔体（3）和下腔体（4）均采用大小径圆筒结构设计，所述上腔体（3）的小径部位位于大径部位的上方，所述下腔体（4）的小径部位位于大径部位的下方。

5.根据权利要求1所述的一种高频同轴信号探针测试单元，其特征在于：所述上轴套（6）与下轴套（7）均采用大小径结构设计，且均开设有上下贯通并带有导向锥角的通孔，所述上轴套（6）的截面呈齿轮形，所述下轴套（7）的截面呈圆环形。

6.根据权利要求1所述的一种高频同轴信号探针测试单元，其特征在于：所述上柱塞（53）与套筒（51）通过四点压接固定。

7.根据权利要求1所述的一种高频同轴信号探针测试单元，其特征在于：所述上柱塞（53）包含爪头（531）、柱塞盘（532）和导向头（533），所述爪头（531）位于上柱塞（53）的上端，所述柱塞盘（532）为圆盘形结构，且套设于上柱塞（53）的中部，所述导向头（533）位于上柱塞（53）的下端。

8.根据权利要求7所述的一种高频同轴信号探针测试单元，其特征在于：所述爪头（531）采用四爪皇冠结构设计，所述导向头（533）采用十字型结构设计，其径向尺寸大于弹簧（52）的直径尺寸，其下端插入弹簧（52）的环径中。

9.根据权利要求1所述的一种高频同轴信号探针测试单元，其特征在于：所述下柱塞（54）的上端设有凸缘部（541），所述凸缘部（541）的直径尺寸大于套筒（51）下端的端口直径尺寸及弹簧（52）的直径尺寸，所述凸缘部（541）的上端呈锥形结构设计。