[发明专利]将数据和电力发射到存储器子系统以用于存储器装置测试

权利要求书

1.一种方法，其包括：

通过存储器装置测试资源的处理装置来检测到存储器子系统已与所述存储器装置测试资源的第一存储器子系统接口端口和第二存储器子系统接口端口接合；

通过所述处理装置来使得将电源信号经由所述第一存储器子系统接口端口从所述存储器装置测试资源发射到所述存储器子系统；

通过所述处理装置来识别将针对所述存储器子系统的存储器装置进行的测试，其中所述测试包括将在所述测试的进行中执行的一或多个测试指令；以及

通过所述处理装置来使得将所述一或多个测试指令经由所述第二存储器子系统接口端口从所述存储器装置测试资源发射到所述存储器子系统，其中所述测试由在所述存储器子系统处执行的所述一或多个测试指令进行。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一存储器子系统接口端口包括被配置成耦合到所述存储器子系统的对应插孔的一或多个引脚，其中所述一或多个引脚被配置成将所述电源信号从所述存储器装置测试资源发射到与所述存储器装置测试资源接合的所述存储器子系统。

3.根据权利要求1所述的方法，其中所述第二存储器子系统接口端口包括一或多个串行输入/输出IO引脚，所述引脚被配置成耦合到所述存储器子系统的对应串行IO插孔。

4.根据权利要求3所述的方法，其中所述第二存储器子系统接口端口被配置成经由所述存储器子系统的保护罩的开口耦合到所述存储器子系统，所述开口被配置成将所述存储器子系统的所述对应串行IO插孔暴露给所述第二存储器子系统接口端口的所述串行IO引脚。

5.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：

经由所述第二存储器子系统接口端口接收来自在所述存储器装置处进行的所述测试的结果。

6.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：

基于将针对所述存储器装置进行的所述测试的所述一或多个测试指令来使得所述存储器装置测试资源的测试条件组件生成将应用于所述存储器子系统的第一测试条件；以及

从测试资源监测组件接收与所述存储器装置测试资源内的一或多个条件相关联的数据，其中所述一或多个条件包括由所述测试条件组件生成的所述第一测试条件。

7.根据权利要求6所述的方法，其进一步包括：

当在所述存储器装置处进行所述测试时，使得所述测试条件组件生成将应用于所述存储器子系统的第二测试条件。

8.根据权利要求6所述的方法，其中所述测试条件组件包括温度控制器或电压控制器中的至少一个，并且所述测试资源监测组件包括温度监测组件、电压监测组件、电流监测组件或湿度监测组件中的至少一个。

9.一种存储器子系统，其包括：

存储器装置；以及

处理装置，其以操作方式耦合到所述存储器装置，所述处理装置用于进行以下操作：

检测到所述存储器子系统已与存储器装置测试资源的第一存储器子系统接口端口和第二存储器子系统接口端口接合，其中所述第一存储器子系统接口端口被配置成将电源信号从所述存储器装置测试资源发射到所述存储器子系统，并且所述第二存储器子系统接口端口被配置成在所述存储器装置测试资源与所述存储器子系统之间发射数据；

经由所述第二存储器子系统接口端口从所述存储器装置测试资源的处理装置接收将针对所述存储器装置进行的测试的一或多个测试指令；

通过执行一或多个所接收到的测试指令来针对所述存储器装置进行所述测试；

在针对所述存储器装置的所述测试的所述进行期间生成第一组测试结果；以及

经由所述第二存储器子系统接口端口将所述第一组测试结果发射到所述存储器装置测试资源的所述处理装置。

10.根据权利要求9所述的系统，其中所述第一存储器子系统接口端口包括被配置成耦合到所述第一存储器子系统接口端口的对应引脚的一或多个插孔。