[发明专利]将数据和电力发射到存储器子系统以用于存储器装置测试

说明书

本申请涉及将数据和电力发射到存储器子系统以用于存储器装置测试。存储器装置测试资源的处理装置检测到存储器子系统已与所述存储器装置测试资源的第一存储器子系统接口端口和第二存储器子系统接口端口接合。所述处理装置使得将电源信号经由所述第一存储器子系统接口端口从所述存储器装置测试资源发射到所述存储器子系统。所述处理装置识别将针对所述存储器子系统的存储器装置进行的测试，其中所述测试包含将在所述测试的进行中执行的一或多个测试指令。所述处理装置使得将所述一或多个测试指令经由所述第二存储器子系统接口端口从所述存储器装置测试资源发射到所述存储器子系统，其中所述测试由在所述存储器子系统处执行的所述一或多个测试指令进行。

技术领域

本公开的实施例大体上涉及存储器子系统，且更具体地说，涉及将数据和电力发射到存储器子系统以用于存储器子系统测试。

背景技术

一种存储器子系统可包含存储数据的一或多个存储器装置。存储器装置可为例如非易失性存储器装置和易失性存储器装置。一般来说，主机系统可利用存储器子系统以在存储器装置处存储数据且从存储器装置检索数据。

发明内容

在一个方面中，本申请提供一种方法，其包括：通过存储器装置测试资源的处理装置来检测到存储器子系统已与存储器装置测试资源的第一存储器子系统接口端口和第二存储器子系统接口端口接合；通过处理装置来使得将电源信号经由第一存储器子系统接口端口从存储器装置测试资源发射到存储器子系统；通过处理装置来识别将针对存储器子系统的存储器装置进行的测试，其中测试包括将在测试的进行中执行的一或多个测试指令；以及通过处理装置来使得将一或多个测试指令经由第二存储器子系统接口端口从存储器装置测试资源发射到存储器子系统，其中测试由在存储器子系统处执行的一或多个测试指令进行。

在另一方面中，本申请提供一种存储器子系统，其包括：存储器装置；以及处理装置，其以操作方式耦合到存储器装置，处理装置用于进行以下操作：检测到存储器子系统已与存储器装置测试资源的第一存储器子系统接口端口和第二存储器子系统接口端口接合，其中第一存储器子系统接口端口被配置成将电源信号从存储器装置测试资源发射到存储器子系统，并且第二存储器子系统接口端口被配置成在存储器装置测试资源与存储器子系统之间发射数据；经由第二存储器子系统接口端口从存储器装置测试资源的处理装置接收将针对存储器装置进行的测试的一或多个测试指令；通过执行一或多个所接收到的测试指令来针对存储器装置进行测试；在针对存储器装置的测试的进行期间生成第一组测试结果；以及经由第二存储器子系统接口端口将第一组测试结果发射到存储器装置测试资源的处理装置。

在另一方面中，本申请提供一种测试架，其包括多个测试板，其中多个测试板中的每一个包括多个存储器装置测试资源，并且其中多个存储器装置测试资源中的每一个的处理装置将进行包括以下各者的操作：检测到存储器子系统已与存储器装置测试资源的第一存储器子系统接口端口和第二存储器子系统接口端口接合；使得将电源信号经由第一存储器子系统接口端口从存储器装置测试资源发射到存储器子系统；识别将针对存储器子系统的存储器装置进行的测试，其中测试包括将在测试的进行中执行的一或多个测试指令；以及使得将一或多个测试指令经由第二存储器装置接口端口从存储器装置测试资源发射到存储器装置子系统，其中测试由在存储器子系统处执行的一或多个测试指令进行。

附图说明

根据下文给出的详细描述和本公开的各种实施例的附图，将更充分地理解本公开。

图1说明根据本公开的一些实施例的包含存储器子系统的实例计算系统。

图2是根据本公开的一些实施例的用于进行存储器装置的测试的测试平台。

图3是根据本公开的一些实施例的实例存储器装置测试资源。

图4是根据本公开的一些实施例的存储器子系统经由第一存储器子系统接口端口和第二存储器子系统接口端口到存储器装置测试资源的实例连接。