[发明专利]一种光学检测中窄带吸收的背景校正方法、设备及介质

说明书

本发明涉及一种光学检测中窄带吸收的背景校正方法、设备及介质，所述背景校正方法用于对光学检测系统进行误差校正，该方法包括以下步骤：获取光学检测系统的光学检测系统原始检测数据；基于预先获得的背景校正系数对所述原始检测数据进行背景校正；其中，所述背景校正系数通过以下方式获得：获取一组该光学检测系统的检测数据，通过反向推演及验证的方式获得最优的所述背景校正系数。与现有技术相比，本发明具有有效降低误差、提高精度，无须硬件变更等优点。

技术领域

本发明涉及一种光电检测系统，尤其是涉及一种光学检测中窄带吸收的背景校正方法、设备及介质。

背景技术

光电检测系统如分子吸收光谱仪、原子吸收光谱仪等，是光谱学检测中的重要仪器。其中，气相分子吸收光谱仪是基于被测成分所分解成的气体对光的吸收强度与被测成分浓度的关系遵守光吸收定律这一原则来进行定量测定的；根据吸收波长的不同，也可以确定被测定的成分而进行定性分析。气相分子吸收光谱仪可以包括光源、准直和聚焦透镜组、吸光池、单色器以及光电检测器件，在进行检测过程中因为背景干扰等因素导致系统误差。如何降低背景干扰提高光电检测系统的检测精度是本领域亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种有效降低背景干扰、提高精度的光学检测中窄带吸收的背景校正方法、设备及介质。

本发明的目的可以通过以下技术方案来实现：

一种光学检测中窄带吸收的背景校正方法，用于对光学检测系统进行背景误差校正，该方法包括以下步骤：

获取光学检测系统的光学检测系统原始检测数据；

基于预先获得的背景校正系数对所述原始检测数据进行背景校正；

其中，所述背景校正系数通过以下方式获得：获取一组该光学检测系统的检测数据，通过反向推演及验证的方式获得最优的所述背景校正系数。

进一步地，所述背景校正系数用于表征该光学检测系统的背景杂散光。

进一步地，所述光学检测系统为基于朗博-比尔定律的光谱检测系统及设备，包括分子吸收光谱仪或原子吸收光谱仪等。

进一步地，所述光学检测系统的光源为连续光源或含有背景干扰的锐线光源。

进一步地，所述光源为连续光源时，背景校正系数为复合光强与入射光强的比值。

进一步地，所述进行背景校正的数据包括透射比，经校正后的透射比与原始透射比的关系为：

其中，T′为经校正后的透射比，T为原始透射比，C为背景校正系数。

进一步地，所述背景校正系数的取值范围为0-1。

本发明还提供一种气相分子吸收光谱法的样品浓度梯度实验数据处理方法，采用如上所述背景校正方法对实验数据进行背景校正，根据校正后的数据获得不同浓度与吸光度的拟合曲线。

本发明还提供一种电子设备，包括：一个或多个处理器；存储器；和被存储在存储器中的一个或多个程序，所述一个或多个程序包括用于执行如上所述背景校正方法的指令。

本发明还提供一种计算机可读存储介质，包括供电子设备的一个或多个处理器执行的一个或多个程序，所述一个或多个程序包括用于执行如上所述背景校正方法的指令。

与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：

1、本发明根据光学吸收特性理论进行的校正，可有效对检测数据进行背景校正，降低背景误差，提高线性范围和测试精度。