[发明专利]一种光学检测中窄带吸收的背景校正方法、设备及介质

权利要求书

1.一种光学检测中窄带吸收的背景校正方法，其特征在于，用于对光学检测系统进行背景误差校正，所述光学检测系统的光源为连续光源或含有背景干扰的锐线光源，该方法包括以下步骤：

获取光学检测系统的光学检测系统原始检测数据；

基于预先获得的背景校正系数对所述原始检测数据进行背景校正；

其中，所述背景校正系数通过以下方式获得：获取一组该光学检测系统的检测数据，通过反向推演及验证的方式获得最优的所述背景校正系数；

所述背景校正系数满足以下关系式：

0C1

Abs_(NEW)＝lg(1/T′)

其中，I₀为入射光强，I为出射光强，I_X为存在于I₀和I中的复合光强，T′为经校正后的透射比，T为原始透射比，C为背景校正系数，Abs_(NEW)为经校正后的吸光度；

通过所述背景校正系数将I₀和I中的复合光强I_X扣除，得到的T′以及由T′计算得到的Abs_(NEW)为真正符合朗伯比尔定律的真实吸光度值，实现背景校正。

2.根据权利要求1所述的光学检测中窄带吸收的背景校正方法，其特征在于，所述背景校正系数用于表征该光学检测系统的背景杂散光。

3.根据权利要求1所述的光学检测中窄带吸收的背景校正方法，其特征在于，所述光学检测系统为基于朗博-比尔定律的光谱检测系统及设备。

4.根据权利要求1所述的光学检测中窄带吸收的背景校正方法，其特征在于，所述光源为连续光源时，背景校正系数为复合光强与入射光强的比值。

5.根据权利要求1所述的光学检测中窄带吸收的背景校正方法，其特征在于，所述背景校正系数的取值范围为0-1。

6.一种气相分子吸收光谱法的样品浓度梯度实验数据处理方法，其特征在于，采用如权利要求1-5任一所述背景校正方法对实验数据进行背景校正，根据校正后的数据获得不同浓度与吸光度的拟合曲线。

7.一种电子设备，其特征在于，包括：一个或多个处理器；存储器；和被存储在存储器中的一个或多个程序，所述一个或多个程序包括用于执行如权利要求1-5任一所述背景校正方法的指令。

8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，包括供电子设备的一个或多个处理器执行的一个或多个程序，所述一个或多个程序包括用于执行如权利要求1-5任一所述背景校正方法的指令。