[发明专利]用于确定电路版图的方法、设备和计算机可读存储介质在审
| 申请号: | 202011495600.1 | 申请日: | 2020-12-17 |
| 公开(公告)号: | CN112561783A | 公开(公告)日: | 2021-03-26 |
| 发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 全芯智造技术有限公司 |
| 主分类号: | G06T3/00 | 分类号: | G06T3/00;G06T11/00;G06F30/392 |
| 代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 杨飞 |
| 地址: | 230088 安徽省合肥市高新区*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 确定 电路 版图 方法 设备 计算机 可读 存储 介质 | ||
1.一种确定电路版图的方法,包括:
针对被填充有第一颜色和第二颜色并且包括多个子区域的电路版图,确定初始全局成本,全局成本指示所述电路版图的着色不平衡程度;
依次针对所述多个子区域中的至少一个子区域,
执行颜色转换以更新所述电路版图,所述颜色转换将所述子区域中的所述第一颜色改变为所述第二颜色并且将所述第二颜色改变为所述第一颜色;
确定经更新的所述电路版图的更新全局成本;以及
如果确定所述更新全局成本小于所述初始全局成本,保留所述颜色转换;
基于所述多个子区域中的至少一个子区域的所述颜色转换的结果,生成最终的电路版图。
2.根据权利要求1所述的方法,还包括:
如果确定所述更新全局成本不小于所述初始全局成本,放弃所述颜色转换。
3.根据权利要求1所述的方法,其中确定所述初始全局成本包括:
利用扫描窗口,多次扫描所述电路版图;
针对多次扫描中的每次扫描:
确定所述扫描窗口中的所述第一颜色的第一面积和所述第二颜色的第二面积;以及
基于所述第一颜色的所述第一面积和所述第二颜色的所述第二面积,确定着色不平衡值;以及
基于针对所述多次扫描而确定的多个着色不平衡值,确定所述初始全局成本。
4.根据权利要求3所述的方法,其中基于所述第一颜色的所述第一面积和所述第二颜色的所述第二面积确定所述着色不平衡值包括:
基于第一面积差和第一面积和的比值,确定所述着色不平衡值;所述第一面积差为所述第一面积和所述第二面积之差,所述第一面积和为所述第一面积和所述第二面积之和,,并且
其中基于针对所述多次扫描而确定的所述多个着色不平衡值确定所述初始全局成本包括:
获取每一次扫描的着色不平衡值;
通过对多个着色不平衡值的平方进行求和,来确定所述初始全局成本。
5.根据权利要求1所述的方法,其中确定经更新的所述电路版图的所述更新全局成本包括:
利用扫描窗口,多次扫描经更新的所述电路版图;
针对多次扫描中的每次扫描:
确定所述扫描窗口中的所述第一颜色的第三面积和所述第二颜色的第四面积;以及
基于所述第三面积和所述第四面积,确定着色不平衡值;以及
基于针对所述多次扫描而确定的多个着色不平衡值,确定所述更新全局成本。
6.根据权利要求5所述的方法,其中基于所述第三面积和所述第四面积确定所述着色不平衡值包括:
基于第二面积差和第二面积和的比值,确定所述着色不平衡值,所述第二面积差为所述第三面积和所述第四面积之差,所述第二面积和为所述第三面积和所述第四面积之和,并且
其中基于针对所述多次扫描而确定的所述多个着色不平衡值确定所述更新全局成本包括:
获取每一次扫描的着色不平衡值;
通过对多个着色不平衡值的平方进行求和,确定所述更新全局成本。
7.根据权利要求3或5所述的方法,其中所述多个子区域中的每个子区域的范围大于所述扫描窗口的范围。
8.根据权利要求1所述的方法,其中所述多个子区域中的每个子区域包括多个几何图形,并且所述多个几何图形中的每个几何图形被着色为第一颜色或第二颜色。
9.根据权利要求1所述的方法,其中
在所述最终的电路版图中,具有所述第一颜色的几何图形的总面积与具有所述第二颜色的几何图形的总面积之差不大于预设面积阈值,并且具有所述第一颜色的几何图形的整体密度与具有所述第二颜色的几何图形的整体密度之差不大于预设密度阈值。
10.根据权利要求9所述的方法,还包括:
将所述最终的电路版图上的具有所述第一颜色的所有几何图形和具有所述第二颜色的所有几何图形进行分解,以分别形成第一子版图和第二子版图。
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