[发明专利]一种基于十字形基准器的校对方法及校对装置

说明书

本发明涉及一种基于十字形基准器的校对方法及校对装置，属于测量技术领域，解决了现有技术中测量点为内凹陷点时，不易被测量的问题。本发明提供一种基于十字形基准器的校对方法，步骤包括：步骤1：分别制作测量件A、测量件B；步骤2：设计十字形基准器；步骤3：测量件A和测量件B分别安装十字形基准器；步骤4：部件A与部件B对接；步骤5：计算测量点A与测量点B的相对距离；步骤6：部件A与部件B校对。本发明实现了内凹陷点的引出与再测量，测量过程简便，测量精度高。

技术领域

本发明涉及测量技术领域，尤其涉及一种基于十字形基准器的校对方法及校对装置。

背景技术

飞行器大尺寸精确对接是保证飞行器外形结构尺寸的重要工艺环节，也是开展后续分系统总装工作的前提，在大部件对接过程中必须保证相关特征尺寸。大部件对接往往涉及到多组交联点尺寸精度，且各组交联点特征分别分布于不同部件之上，导致每个交联点与位于不同部件的多个交联点存在空间特征关系。

通过采用激光跟踪仪测量布设在测量现场中的固定参考点信息位置，与其在全局坐标系中的理论位置信息进行数据的最佳拟合，进而实现部件对接特征尺寸、姿态信息与理论数模一致。

然而，在实际应用过程中，测量点特征往往存在不易被测量的盲点现象，如分布于两个部件之上且有尺寸位置要求的凹陷内螺纹、分布于两个部件之上且有尺寸要求的凹陷定位销孔，或者由于部件尺寸大、测量点范围分布广，激光跟踪仪无法覆盖测量面等。

发明内容

鉴于上述的分析，本发明实施例旨在提供一种基于十字形基准器的校对方法及校对装置，用以解决了现有技术中测量点为内凹陷点时，不易被测量的问题。

本发明提供一种基于十字形基准器的校对方法，步骤包括：

步骤1：分别制作测量件A、测量件B；

步骤2：设计十字形基准器；

步骤3：测量件A和测量件B分别安装十字形基准器；

步骤4：部件A与部件B对接；

步骤5：计算测量点A与测量点B的相对距离；

步骤6：部件A与部件B校对。

进一步地，所述步骤1包括引出测量件A、测量件B的测量点A、测量点B。

进一步地，所述步骤2中，所述十字形基准器包括两个互相垂直的第一平板和第二平板，其中，所述第一平板的长度大于所述第二平板的长度。

进一步地，所述第一平板上左右两端测量对接口的中心点为引出点A1、A2或B1、B2。

进一步地，所述步骤2还包括所述十字形基准器上设计至少两个定位点。

进一步地，所述定位点包括C1、C2、C3和C4；所述定位点C1、C3设置在所述第一平板上，A1与C1以及A2与C3的直线距离都为185mm；所述定位点C2、C4设置在第二平板上，C4与C2的直线距离为270mm，C1与C2的直线距离为190mm。

进一步地，所述步骤3包括所述十字形基准器与测量件A、测量件B采用螺纹连接。

进一步地，所述步骤4包括所述部件A与所述部件B采用螺栓固定连接。

进一步地，所述步骤5包括计算引出点A1与B1、A2与B2之间的相对距离。

进一步地，所述步骤6包括引出点A1与B1、A2与B2之间的相对距离与部件A与部件B的固定距离进行比较，满足精度要求±1mm，其中部件A与部件B的固定距离为5389mm。

进一步地，本发明提供了一种基于十字形基准器的校对装置，该校对装置包括至少两个十字形基准器。