[发明专利]一种基于十字形基准器的校对方法及校对装置

权利要求书

1.一种基于十字形基准器的校对方法，其特征在于，步骤包括：

步骤1：根据飞行器上的部件A、部件B分别制作测量件A、测量件B，测量件A、测量件B结构相同；

所述测量件A和测量件B为多段结构，各段结构之间为可拆卸连接，以适应不同深度的凹陷点的测量需要；

测量件A具有第一端部和第二端部，其中，第一端部的横截面积大于第二端部的横截面积，第二端部与部件A上的待测量点螺纹连接；

待测量点为内凹陷点，将待测量点引出到十字形基准器表面上，引出测量件A、测量件B的测量点A、测量点B，测量点A的引出点A1、A2，测量点B的引出点B1、B2；

步骤2：设计十字形基准器，所述十字形基准器包括两个互相垂直的第一平板和第二平板，第一平板上左右两端测量对接口的中心点为引出点A1、A2或B1、B2；

在所述十字形基准器上设置4个定位点，所述定位点包括C1、C2、C3和C4；所述定位点C1、C3设置在所述第一平板上，A1与C1以及A2与C3的直线距离均为185mm；所述定位点C2、C4设置在第二平板上，C4与C2的直线距离为270mm，C1与C2的直线距离为190mm；十字形基准器表面平面度控制在0.02mm；

步骤3：测量件A和测量件B分别安装十字形基准器；

所述十字形基准器与测量件A、测量件B采用螺纹连接；

步骤4：部件A与部件B对接；

步骤5：计算测量点A与测量点B的相对距离，将引出点A1与B1、A2与B2的相对距离计算值与测量点A、B之间的固定距离值作比较；

采用激光跟踪仪建立测量场进行测量，在测量场内任何位置都可以设置为坐标原点进行测量，部件A、部件B分别放在固定位置，测量点A、测量点B与引出点A1或A2、引出点B1或B2在同一垂直线上，测量点A与测量点B之间的相对距离与引出点A1与B1或引出点A2与B2的相对距离相等，将引出点A1与B1、A2与B2的相对距离计算值与测量点A、B之间的固定距离值作比较；

步骤6：部件A与部件B校对，如果不满足精度要求，则增减部件A与部件B对接面的厚度，直到达到精度要求。

2.根据权利要求1所述的一种基于十字形基准器的校对方法，其特征在于，所述步骤2还包括所述十字形基准器上设计至少两个定位点。

3.根据权利要求1所述的一种基于十字形基准器的校对方法，其特征在于，所述步骤4包括所述部件A与所述部件B采用螺栓固定连接。

4.根据权利要求3所述的一种基于十字形基准器的校对方法，其特征在于，所述步骤5包括计算A1与B1、A2与B2之间的相对距离。