[发明专利]电子锁面板质量检测方法、系统、计算机装置和存储介质

说明书

本发明公开了一种电子锁面板质量检测方法、系统、计算机装置和存储介质，质量检测方法包括对电子锁面板的图像进行blob分析，确定感兴趣区域，进行凸性转换、孔洞位置信息的标记、差分运算、区域分割和交集运算等处理获得第五区域，根据第五区域的面积确定电子锁面板的孔洞质量检测结果等步骤。本发明能够将电子锁面板的图像中的孔洞的信息转换成为相应区域的面积信息，从而能够以较高准确率判断电子锁面板存在的孔洞的严重性，确定电子锁面板的质量检测结果，本发明能够通过自动化检测设备执行，通过减少人工参与，提高检测效率，减少漏检和误检等情况的出现，保持较高的检测稳定性。本发明广泛应用于图像处理技术领域。

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域，尤其是一种电子锁面板质量检测方法、系统、计算机装置和存储介质。

背景技术

电子锁是一种新式锁具，其安全性能高、使用便捷。电子锁的面板能够产生防护作用，电子锁面板的质量关系到电子锁的安全性能。在电子锁面板的生产过程中产生的孔洞是其中一种降低电子锁面板质量的因素，因此需要根据电子锁面板上存在孔洞的情况来评价电子锁面板的质量。现有技术中，主要是在电子锁装配过程中依靠人工观察电子锁面板进行孔洞检测，这种检测方式效率低，容易出现漏检和误检的情况。

发明内容

针对上述至少一个技术问题，本发明的目的在于提供一种电子锁面板质量检测方法、系统、计算机装置和存储介质。

一方面，本发明实施例包括一种电子锁面板质量检测方法，包括：

获取所述电子锁面板的图像；

对所述电子锁面板的图像进行blob分析，确定所述电子锁面板的图像上的至少一个感兴趣区域；所述感兴趣区域为存在孔洞的区域；

获取第二区域；所述第二区域为对所述感兴趣区域进行凸性转换的结果；

获取第三区域；所述第三区域为对所述第二区域进行孔洞位置信息的标记的结果；

根据所述第二区域，对所述第三区域执行差分运算；

获取第四区域；所述第四区域为对所述电子锁面板的图像进行区域分割的结果；

获取第五区域；所述第五区域为对所述第三区域和所述第四区域进行交集运算的结果；

根据所述第五区域的面积，确定所述电子锁面板的孔洞质量检测结果。

进一步地，所述根据所述第五区域的面积，确定所述电子锁面板的孔洞质量检测结果，包括：

当所述第五区域的面积大于面积阈值，确定所述电子锁面板的孔洞质量检测结果为不合格。

进一步地，所述根据所述第五区域的面积，确定所述电子锁面板的孔洞质量检测结果，包括：

当所述第五区域的面积不大于面积阈值，确定所述电子锁面板的孔洞质量检测结果为合格。

进一步地，所述获取所述电子锁面板的图像，包括：

拍摄获取所述电子锁面板的RGB图像；

将所述RGB图像转换为单通道灰度图像；

通过blob分析将所述单通道灰度图像转正；

对所述单通道灰度图像进行二值化。

进一步地，所述获取第三区域，包括：

对所述第二区域依次进行区域角度值求取、面积计算、中心点行列坐标计算和仿射变换，获得所述第三区域。

进一步地，所述区域分割包括依次进行的连通域分割、面积特征选择、凸性转换和仿射变换。

进一步地，所述第五区域为所述第三区域和所述第四区域的交集。