[发明专利]电子锁面板质量检测方法、系统、计算机装置和存储介质有效

专利信息
申请号: 202011487358.3 申请日: 2020-12-16
公开(公告)号: CN112508925B 公开(公告)日: 2023-07-04
发明(设计)人: 陈从桂;张浩;黎鑫泽;朱春锦;侯浩佳;朱健业 申请(专利权)人: 广州大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/62
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 常柯阳
地址: 510006 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 电子锁 面板 质量 检测 方法 系统 计算机 装置 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种电子锁面板质量检测方法,其特征在于,包括:

获取所述电子锁面板的图像;

对所述电子锁面板的图像进行blob分析,确定所述电子锁面板的图像上的至少一个感兴趣区域;所述感兴趣区域为存在孔洞的区域;

获取第二区域;所述第二区域为对所述感兴趣区域进行凸性转换的结果;

获取第三区域;所述第三区域为对所述第二区域进行孔洞位置信息的标记的结果;

根据所述第二区域,对所述第三区域执行差分运算;

获取第四区域;所述第四区域为对所述电子锁面板的图像进行区域分割的结果;所述区域分割包括依次进行的连通域分割、面积特征选择、凸性转换和仿射变换;

获取第五区域;所述第五区域为对所述第三区域和所述第四区域进行交集运算的结果;

根据所述第五区域的面积,确定所述电子锁面板的孔洞质量检测结果;

所述获取所述电子锁面板的图像,包括:

拍摄获取所述电子锁面板的RGB图像;

将所述RGB图像转换为单通道灰度图像;

通过blob分析将所述单通道灰度图像转正;

对所述单通道灰度图像进行二值化;

所述获取第三区域,包括:

对所述第二区域依次进行区域角度值求取、面积计算、中心点行列坐标计算和仿射变换,获得所述第三区域。

2.根据权利要求1所述的电子锁面板质量检测方法,其特征在于,所述根据所述第五区域的面积,确定所述电子锁面板的孔洞质量检测结果,包括:

当所述第五区域的面积大于面积阈值,确定所述电子锁面板的孔洞质量检测结果为不合格。

3.根据权利要求1或2所述的电子锁面板质量检测方法,其特征在于,所述根据所述第五区域的面积,确定所述电子锁面板的孔洞质量检测结果,包括:

当所述第五区域的面积不大于面积阈值,确定所述电子锁面板的孔洞质量检测结果为合格。

4.根据权利要求1所述的电子锁面板质量检测方法,其特征在于,所述第五区域为所述第三区域和所述第四区域的交集。

5.一种电子锁面板质量检测系统,其特征在于,包括:

第一模块,用于获取所述电子锁面板的图像;

第二模块,用于对所述电子锁面板的图像进行blob分析,确定所述电子锁面板的图像上的至少一个感兴趣区域;所述感兴趣区域为存在孔洞的区域;

第三模块,用于获取第二区域;所述第二区域为对所述感兴趣区域进行凸性转换的结果;

第四模块,用于获取第三区域;所述第三区域为对所述第二区域进行孔洞位置信息的标记的结果;

第五模块,用于根据所述第二区域,对所述第三区域执行差分运算;

第六模块,用于获取第四区域;所述第四区域为对所述电子锁面板的图像进行区域分割的结果;所述区域分割包括依次进行的连通域分割、面积特征选择、凸性转换和仿射变换;

第七模块,用于获取第五区域;所述第五区域为对所述第三区域和所述第四区域进行交集运算的结果;

第八模块,用于根据所述第五区域的面积,确定所述电子锁面板的孔洞质量检测结果;

所述获取所述电子锁面板的图像,包括:

拍摄获取所述电子锁面板的RGB图像;

将所述RGB图像转换为单通道灰度图像;

通过blob分析将所述单通道灰度图像转正;

对所述单通道灰度图像进行二值化;

所述获取第三区域,包括:

对所述第二区域依次进行区域角度值求取、面积计算、中心点行列坐标计算和仿射变换,获得所述第三区域。

6.一种计算机装置,其特征在于,包括存储器和处理器,所述存储器用于存储至少一个程序,所述处理器用于加载所述至少一个程序以执行权利要求1-4任一项所述方法。

7.一种存储介质,其中存储有处理器可执行的程序,其特征在于,所述处理器可执行的程序在由处理器执行时用于执行如权利要求1-4任一项所述方法。

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