[发明专利]一种引脚短路检测电路及检测方法

权利要求书

1.一种引脚短路检测电路，包括，控制开关、引脚电位控制电路，其特征在于，

所述控制开关，其设置在芯片内部模块与芯片外部引脚之间，控制所述芯片内部模块与芯片外部引脚的断开或连接；

所述引脚电位控制电路，其与芯片外部引脚相连接，对芯片外部引脚的电位进行控制；

所述引脚电位控制电路，还包括，第一与门、第一反相器、第一晶体管、第二反相器、第二与门，以及第二晶体管，其中，

所述第一与门的一个输入端、所述第二反相器的输入端连接控制信号；所述第一与门的另一个输入端连接使能信号；

所述第一与门的输出端通过所述第一反相器连接所述第一晶体管的栅极；

所述第一晶体管的源极与电源正极相连接，其漏极与所述第二晶体管的漏极相连接，并连接到芯片外部引脚；

所述第二反相器的输出端与所述第二与门的一个输入端相连接；所述第二与门的另一个输入端连接使能信号；所述第二与门的输出端与所述第二晶体管的栅极相连接，所述第二晶体管的源极连接电源负极；或

所述引脚电位控制电路，还包括，第三反相器、第四反相器、第一或门、第三晶体管、第五反相器、第二或门、第六反相器，以及第四晶体管，其中，

所述第三反相器的输入端、所述第二或门的一个输入端与控制信号相连接；

所述第四反相器、所述第五反相器的输入端连接使能信号；

所述第三反相器的输出端、所述第四反相器的输出端，分别连接到所述第一或门的两个输入端，所述第一或门的输出端与所述第三晶体管的栅极相连接；

所述第五反相器的输出端连接所述第二或门的另一个输入端；所述第二或门的输出端通过所述第六反相器与所述第四晶体管的栅极相连接；

所述第三晶体管的漏极、所述第四晶体管的漏极相连接，并连接到芯片外部引脚；

所述第三晶体管的源极与电源正极相连接；所述第四晶体管的源极与电源负极相连接。

2.根据权利要求1所述的引脚短路检测电路，其特征在于，所述引脚电位控制电路，还包括，上拉开关和下拉开关，其中，

所述上拉开关，设置在电源正极和芯片外部引脚之间；所述下拉开关，设置在电源负极和芯片外部引脚之间。

3.一种引脚短路检测方法，采用权利要求1或2所述的引脚短路检测电路，包括以下步骤：

将芯片设置为低功耗模式；

断开芯片内部模块与芯片外部引脚的连接；

按预设状态设置芯片外部引脚的电位；

检测为芯片供电的供电电流，判断芯片外部引脚之间是否短路。

4.根据权利要求3所述的引脚短路检测方法，其特征在于，所述按预设状态设置芯片外部引脚的电位的步骤，还包括，

将相邻的芯片外部引脚的电位设置为相反的状态。

5.根据权利要求3所述的引脚短路检测方法，其特征在于，所述按预设状态设置芯片外部引脚的电位的步骤，还包括，

将相邻行或列的芯片外部引脚的电位设置为相反的状态。

6.根据权利要求3所述的引脚短路检测方法，其特征在于，所述检测为芯片供电的供电电流，判断芯片外部引脚之间是否短路的步骤，还包括，当检测为芯片供电的供电电流大于预设的电流阈值，则认为芯片引脚之间发生了短路。

7.根据权利要求6所述的引脚短路检测方法，其特征在于，所述预设的电流阈值，为芯片低功耗模式下的为芯片供电的供电电流。

8.一种芯片，其特征在于，包括，引脚短路检测电路及控制单元，其中，

所述引脚短路检测电路，采用权利要求1或2所述的引脚短路检测电路；

所述控制单元，其对所述引脚短路检测电路的工作进行控制。

9.一种信息处理装置，其特征在于，包括，芯片以及中央处理器，其中，

所述芯片，其采用权利要求8所述的芯片；

所述中央处理器与所述芯片之间进行信息交互。