[发明专利]用于芯片的自适应电压与频率调节的测试电路的实现方法

权利要求书

1.一种用于芯片的自适应电压与频率调节的测试电路的实现方法，其中，所述测试电路包括至少一个测试路径，所述至少一个测试路径包括第一测试路径，所述实现方法包括：

获取用于实现所述芯片的至少一个关键路径对应的网表，所述至少一个关键路径包括第一关键路径，所述第一关键路径包括第一关键起点单元、第一关键终点单元以及位于所述第一关键起点单元与所述第一关键终点单元之间的至少一个第一关键中间单元；

根据所述第一关键路径对应的网表，对应地从所述芯片的工作区域内找到所述第一关键路径，并获取所述第一关键路径对应的第一关键路径坐标，所述第一关键路径坐标包括所述第一关键起点单元、所述第一关键终点单元以及所述至少一个第一关键中间单元在所述工作区域内的坐标；

根据所述第一关键路径坐标在所述芯片的不同于所述工作区域的测试区域中创建所述第一测试路径的摆放边界，所述第一测试路径包括第一测试起点单元、第一测试终点单元以及位于所述第一测试起点单元与所述第一测试终点单元之间的至少一个第一测试中间单元；以及

在所述测试区域中根据所述第一测试路径的摆放边界对所述第一测试路径包括的各个单元的位置进行布局，从而在所述测试区域中完成对所述第一关键路径的物理实现。

2.根据权利要求1所述的实现方法，其中，根据所述第一关键路径坐标在所述芯片的不同于所述工作区域的测试区域中创建所述第一测试路径的摆放边界，包括：

根据所述第一关键路径坐标计算获得所述第一关键路径中每相邻的两个单元之间的距离的和，并记作第一距离；以及

创建所述第一测试路径的摆放边界，以使得所述第一测试起点单元与所述第一测试终点单元之间的距离为所述第一距离。

3.根据权利要求1所述的实现方法，其中，在所述测试区域中根据所述第一测试路径的摆放边界对所述第一测试路径包括的各个单元的位置进行布局，包括：

采用自动布局布线工具在所述测试区域中根据所述第一测试路径的摆放边界对所述第一测试路径包括的各个单元的位置进行自动布局。

4.根据权利要求3所述的实现方法，其中，在所述测试区域中根据所述第一测试路径的摆放边界对所述第一测试路径包括的各个单元的位置进行布局，还包括：

在所述自动布局的操作完成后，对所述第一测试路径包括的各个单元的位置进行调整，以使得所述第一测试路径包括的各个单元的相对位置关系相对于调整前更接近于所述第一关键路径包括的各个单元的相对位置关系，然后固定所述第一测试路径包括的各个单元的位置。

5.根据权利要求1-4任一所述的实现方法，其中，所述至少一个关键路径还包括第二关键路径，所述第二关键路径包括第二关键起点单元、第二关键终点单元以及位于所述第二关键起点单元与所述第二关键终点单元之间的至少一个第二关键中间单元，所述至少一个测试路径还包括第二测试路径，所述实现方法还包括：

根据所述第二关键路径对应的网表，对应地从所述芯片的工作区域内找到所述第二关键路径，并获取所述第二关键路径对应的第二关键路径坐标，所述第二关键路径坐标包括所述第二关键起点单元、所述第二关键终点单元以及所述至少一个第二关键中间单元在所述工作区域内的坐标；

根据所述第二关键路径坐标在所述测试区域中创建所述第二测试路径的摆放边界，所述第二测试路径包括第二测试起点单元、第二测试终点单元以及位于所述第二测试起点单元与所述第二测试终点单元之间的至少一个第二测试中间单元；以及

在所述测试区域中根据所述第二测试路径的摆放边界对所述第二测试路径包括的各个单元的位置进行布局，从而在所述测试区域中完成对所述第二关键路径的物理实现；

其中，将从所述第一测试起点单元到所述第一测试终点单元的连线称为第一连线，将从所述第二测试起点单元到所述第二测试终点单元的连线称为第二连线，所述第一连线与所述第二连线交叉。

6.根据权利要求1-4任一所述的实现方法，其中，在所述测试区域中根据所述第一测试路径的摆放边界对所述第一测试路径包括的各个单元的位置进行布局的操作完成后，所述实现方法还包括：

获得所述至少一个关键路径对应的时序约束文件；以及

根据所述时序约束文件对所述测试电路中的金属走线进行绕线。